Formulaction

없음

○ 다양한 박막의 건조 및 경화 특성 분석 (건조 메커니즘, 건조 및 경화 시간 등)
- 측정원리 : Multi-speckle diffusing wave spectroscopy
- 비접촉식으로 시료의 물성을 변화시키지 않고 분석 가능

○ 해당 장비는 필름 형성 중 미세 구조 변화를 모니터링할 수 있는 장비로 Multi-Speckle diffusing wave spectroscopy 기반으로 건조, 경화 등의 공정 상황을 모니터링하는 것이 가능함. 양자점 및 고분자 소재 기반 필름 제조 공정 조건 확립을 위한 필름의 상변화 및 경화 특성 분석이 가능한 장비임.
<구성>
- Technology : Non-invasive MS-DWS
- 측정온도 : 상온 ~ 250 ℃
- 파장 : 650 nm
- 샘플 두께 범위 : ㎛ ~ mm
- 측정 시간 : 분 ~ 일
- 샘플 종류 : 액체, 고체
<활용분야>
- 고분자, 양자점 소재를 이용한 박막의 건조 메카니즘, 건조 및 경화 시간 분석
- 실온에서 250 ℃까지 원하는 온도 및 시간에 따른 성상 변화 분석
- UV를 조사하며 실시간으로 경화 과정을 모니터링