1. 장비 구성
1) 단락 저항시간 시험기 본체
· 메인 시스템
· 헤드박스
· 운영체제 및 운용 프로그램 포함된 제어용 PC
· 안전 보호장치
· 온도 조절용 heating 블록
· Clamp

2. 장비 성능
1) 단락 저항시간 시험기 본체
o Max. Collector Voltage : 20 V ~ 1,200 V, Voltage accuracy 3 % 이하
o Short Circuit Current Test range : 20 A ~ 6,000 A, Current accuracy 5 % 이하
o Gate Drive Voltage : -20 V ~ 20 V 이상 지원
o Gate resistor changeable
o Voltage transition time 20 ns 이하
o Pulse width 0.1 ㎲ ~ 50 ㎲ 이상
o Test fixture : Clamp unit, DUT electrode contact , Protecting shield

2) 보조 장치
o 오실로스코프 : Bandwidth 400 MHz 이상
o Heating temperature : 150 ℃, 온도 설정 분해능 ≦ 5 ℃, 온도 오차범위 ≦ 5 ℃