Hirayama

없음

- 소재 및 전자부품/모듈 단위의 신뢰성평가 및 성능검증에 활용
- 고온/고습/고압의 환경을 모사하여 제품의 극한환경 노출을 재현시킴으로써 잠재적인 고장요인을 검출
- PCT, HAST, THB 등 환경시험 가능한 설비로 AEC-Q, JESD 등 시험규격 대응 가능
- 전장품에 대한 Air-HAST 지원

1) 장비의 역할
- 전력 변환 장치의 번-인(burn-in) 테스트는 장치의 초기 결함을 발견하고 제거
- 전압/전류/온도/습도 프로파일을 복합적으로 적용하여 스트레스인자에 대한 가속수명시험법 개발에 필요
- (일반적인 초기고장배제 시험) 전력 변환 장치를 정격 용량 또는 그 이상의 부하 조건에서 연속적으로 작동시켜
초기 고장을 유발하는 방식
- (통계적 분석 및 개선활동) 필드 고장 분석을 통한 수명 산출, 가속수명시험 수립을 위한 데이터 분석

2) 장비의 성능
- 챔버 내부 사이즈 : 350φ X 450D 이상, 2Chamber
- 유효 내부 공간 : 300φ X 350D 이상, 2Chamber
- 조작 판넬 : LCD 터치 스크린(프로그램 설정 및 진행과정을 스크린 확인)
- 온도조건: (105-150) ℃ 이상
- 습도조건: (65-100) %RH
- 압력조건: (0.019 ~ 0.208) MPa
- 온도 정밀도 : ±0.2℃(습도 100%), ±0.5℃(습도 65%)
- 습도 정밀도 : ±1%(습도 100%), ±3%(습도 85%)
- 압력 정확도 : ±0.5%
- 승온 시간 : 약 70분 (실내온도 → 120℃、85%RH) 이내
- 테스트 시간 범위 : 500시간 이상
- 터미널 : 20개(상/하 챔버 개별)