National Instruments

없음

○ 자동차용 반도체 및 모듈의 기능안전 대응을 위한 아날로그 및 혼합 신호 컴포넌트용 고장 주입 장비로 아래와 같은 시험 기능을 갖춤
- Voltage regulator, High/Low-side driver, Half/Full bridge driver, N-bit DAC, N-bit ADC, Oscillator 등 반도체에 대한 결함 주입 시험
- 반도체가 갖는 결함 모델을 주입하여 Failure Mode를 발생시키고, 이에 대응하는 안전 메커니즘의 기능 검증 및 진담 범위 평가
- 하드웨어 아키텍쳐 메트릭 평가 지원
- 안전 메커니즘의 진단 범위 평가 지원
- 진단 시간 및 고장 반응 시간 측정 지원
- 고장 영향 확인 지원
- PIL(Processor In the Loop) 시험 연동 지원

본 장비는 크게 측정 분석용 하드웨어, 기타 하드웨어, 기능안전 메커니즘 기능 검증 및 분석용 소프트웨어로 구성되어 있다.
측정 분석용 하드웨어는 시스템 플랫폼 섀시(슬롯 수 18개, 최대 시스템 대역폭 24 GB/s), 시스템 플랫폼 컨트롤러(프로세서 코어 Xeon 쿼드, 컨트롤러 OS Windows 10 64-bit), 전원 공급 및 측정기(전압 범위 -60 V ~ 60 V, 전류 감도 100 fA), 임의파형발생기(최대 대역폭 40 MHz, 최대 업데이트 속도 800 MS/s), 소스 측정 유닛(SMU 채널 수 4개, 최대 DC 소스 전력 1 W), 디지털 멀티 미터(DC 전압 범위 -1000 V ~ 1000 V, DC 전류 범위 -3 A ~ 3 A), 매트릭스 스위치 모듈(크로스포인트 128, 스위치 대역폭 10 MHz), 아날로그 출력 모듈(아날로그 출력 채널 수 8개, 아날로그 출력 전압 범위 - 16 V ~ 16 V), 오실로스코프(최대 샘플 속도 250 MS/s, 전압 입력 채널 수 4개), 사운드 및 진동 측정 모듈(최대 차동 아날로그 입력 채널 수 6개, 아날로그 입력 커플링 AC/DC), 온도 입력 모듈(지원하는 센서 타입 열전쌍, 차동 아날로그 입력 채널 수 32개), 온도 입력용 터미널 블록(나사 고정 터미널 수 96핀 암, 전압 측정 범위 10V)로 구성 및 성능을 갖추고 있다.
기타 하드웨어는 서버용 컴퓨터(파워 서플라이 ATX 싱글 400W), 모니터, 키보드, 마우스, UPS(출력 전압 230V, 출력 용량 2100W / 3000VA), Emergency Control Box(최대 용량 메인 파워 AC 220V/10A), 검사 및 서버용 19인치 랙, 테스트용 19인치 랙으로 구성 및 성능을 갖추고 있다.
소프트웨어는 Voltage regulator, High/Low-side driver, Half/Full bridge driver, N--bit DAC, N-bit ADC 등의 검사 기능을 갖추고 있음