Jeol
IB-19520CCP
10년
주장비
시험
기계가공·시험장비 > 성형/가공장비 > 표면가공기
공동활용서비스
2024-12-25
238,576,460원
없음
- 이차전지 소재 부품의 비대기개방/저온 단면 제작 및 절삭하는 장비이다
- 영하 120도까지 냉각 가능하며 저온 표면밀링/단면시료의 제작 및 절삭하는 장비이다
- 경질, 복합, 분말, 세라믹, 유리, 형광물질, 복합, 다층 등등 강성시료의 표면밀링/단면시료의 제작 및 절삭하는 장비이다
- 고진공 Ar가스 분위기에서 펜 형태 건을 통해 2 ~ 8 kV 전압의 물리적인 Ar이온빔을 가속 후 시편에 조사하여 균일하고 단면시편을 제작하는 장비임
- 연질/경질, 무연솔더, 형광물질, 복합, 다층, 고분자, 시료를 비롯한 거의 모든 종류의 단면시료 제작 가능
- 자체 냉각기능을 활용해 열에 취약한 시료의 단면 획득 가능
- 비대기노출 시편 준비/제조가 가능하여 대기 노출에 민감한 시료의 절삭 가능
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 100,000원
- 고순도(99.9999%)의 아르곤(Ar) 가스를 이용하여 펜 형태 건(Gun)을 통해 2 ~ 10 kV의 물리적인 Ar 이온빔을 발생시켜 시편에 조사하여 균일하고 균질한 단면을 제작하는 장비임.
- 저온 이온빔 단면 연마기는 연성 재료나 초고경도 재료 및 다양한 복합재료의 단면을 경면으로 미세가공하여 주사전자현미경 분석을 위한 시료를 전처리하는 장비임.
- 액체질소를 이용한 냉각 기능이 탑재되어 있어 연질 또는 경질의 소재 외 무연솔더, 형광물질, 복합, 다층, 고분자 등 다양한 소재의 단면을 경면 연마할 수 있음.
- 자체 냉각 기능 활용하여 열에 취약한 시료를 고품질로 이온 연마할 수 있음.
- 저온 이온빔 단면 연마기는 연성 재료나 초고경도 재료 및 다양햔 복합재료의 단면을 경면으로 미세가공하여 주사전자현미경 분석을 위한 시료를 전처리하는 장비임.
- 단면 가공을 위한 이온은 고순도의 아르곤 가스를 활용하며 Ion Gun 내부의 cathode와 Electrode 사이에 전압이 인가될 때 가속된 아르곤 이온빔으로 시편을 연마함.
- 가속된 아르곤 이온빔은 이온빔 자체의 특징으로서 재료에 발생할 수 있는 변형이나 오염을 줄이며 연마시 가속전압 및 가스의 유량의 미세한 조절이 가능하여 다양한 재료의 특성에 맞춰 최적의 연마 조건을 찾아 가공할 수 있음.
ㅇ 장비 구성: 저온 연마기(본체), 시료 장착 스테이지, 진공펌프
ㅇ 장비 성능
1. 이온 건 타입 : Ar ion gun
2. 가속전압 : 0 ~ 10 kV
3. 이온빔 폭 : 최대 500 ㎛
4. 가공 속도(단면) : 최대 500 ㎛ / hr
5. 가공 속도(평면) : 2 ㎛ / hr
6. 단면가공
1) X 축 이동 : 최대 6 mm
2) Y 축 이동 : 최대 2.5 mm
3) 스윙각도 : ± 30˚ 또는 ± 30˚
4) 최대시편크기 : 11㎜(W) × 8㎜(D) × 3㎜(H)
7. 평면가공
1) X 축 이동 : 최대 5 mm
2) 스윙각도 : 0 ~ 90˚
3) 최대시편크기 : 40 ㎜(Φ) x 15 ㎜(H)
8. 냉각
1) 냉각방식 : LN2
2) 냉각온도법위 : 0 ~ -120 ℃
3) LN2 최대저장량 : 1.0 L
4) 1회 냉각유지시간 : 8시간
5) 냉각성능 : 60분 이내도달
9. 진공시스템
1) 메인펌프 : TMP펌프
2) 보조펌프 : RP펌프
3) 진공측정 : 페닝게이지
10. 기타구성품 : 시편절단기 포함