Thermofisher Scientific Brno s.r.o
Helios 5 PFIB CXe
11년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
공동활용서비스
2024-12-30
1,571,710,410원
없음
- 제논 (Xe) 플라즈마 집속이온빔을 활용하여, 고전류 (최대 2.5 uA) 활용이 가능하여 짧은 시간에 대면적 단면 가공이 가능함
- Milling 시 발생하는 재료의 표면 오염 및 re-deposition 제어 또한 용이함
- 이차전지 소재 및 극판, 금속 재료, 지질, 반도체 세라믹 등 다양한 분야 시료의 표면, 단면 imaging 및 성분 분석
- 제논 (Xe) 플라즈마 이온빔을 활용하여 시편의 단면 milling 및 이미지 획득 가능
- 대기비개방 unit (Clean connect)을 활용하여 대기노출에 민감한 시료의 분석 가능
- EDS, EBSD 디텍터를 이용하여 시편의 구성 원소 정성/정량 분석 및 결정구조 분석 가능
- 단면 이미지를 연속 획득하여 3D-reconstruction 적용 가능
- 전자빔 해상도: 0.6 nm@15keV, 1.2 nm@1keV
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 200,000원
- Xe 플라즈마 집속이온빔을 활용하여, 갈륨 (Ga) 이온빔 대비 시료의 손상이 적고 20~50배 가량 빠른 밀링 속도를 제공할 수 있어 대면적 및 적층구조의 분석에 용이함
- 대기비개방 unit (Clean connect)을 활용하여 대기노출에 민감한 시료의 분석 가능
- EDS, EBSD 디텍터를 이용하여 시편의 구성 원소 정성/정량 분석 및 결정구조 분석 가능
- 단면 이미지를 연속 획득하여 3D-reconstruction 적용 가능
1) Plasma FIB Column / SEM Column Main Body, and Embedded Microscope S/W controlled in UI 1 set
2) Sample Lift-out NanoManipulator System (Including rotation) 1 set
3) 5-Axes Eucentric Stage 1 set
4) In-lens detector for SE & BSE 1 set
5) In-column detectors (low voltage & low loss SE & BSE detector) 1 set
6) In-chamber electron and ion detector 1 set
7) Secondary Electron Detector 1 set
8) Retractable Back-Scattered Detector 1 set
9) In-Chamber Navigation Camera 1 set
10) CCD-IR Camera for in-chamber viewing 1 set
11) Charge Compensation system 1 set
12) Gas Injection System (e.g., Pt, C, W) 1 set
13) Multi Purpose Specimen Holder 1 set
14) Inert Gas Sample Transfer loader 1 set
15) Integrated Plasma Cleaner System 1 set
16) Full Automated TEM Sample Preparation Software 1 set
17) Full Automated Slice and View 3D Software 1 set
18) Full Automated Serial Sectioning and Imaging Software 1 set