1.FT-IR Microscope system
1) 간섭계 : Michelson interferometer
2) 검출기 : DlaTGS w/KBr Detector or MCT-A Detector
3) 빔스플리터 : 다중 코팅된 Ge-on-KBr 빔스플리터
4) 스펙트럼 범위 : 7,800～450cm-1 이상
5) 파장분해능 : 0.4cm-1 이하
6) 검출기 스캔 speed : 5scan/sec 이상
7) 현미경 배율 : 150배 이상
8) 샘플분해능 : 6um 이하
9) 샘플 분석사이즈 : 75 x 50 x 40mm 이상
10) 분석 방법 : 투과, 반사, ATR
2. System Software
1) 서치 및 라이브러리 매니저
2) 수집된 스펙트럼 라이브러리 도입
3) 대기영향 억제 – H2O & CO2 제거 기능
4) 장비 진단 기능 – 파트 및 악세서리의 SMART & E.S.P 체크 DTGS 검출기를 사용한 장비의 자동 진단
5) 통합된 진단 기능과 비디오를 이용한 도움 기능, 문제 해결 및 파트 교체
6) 실시간 피크 확인
7) 적외선 스펙트럼 해석
8) 복합된 화학 성분의 정보 추출을 위한 다성분 검색 및 해석
9) 정량 분석 소프트웨어
10) 적외선 스펙트럼 수집과 실시간 스펙트럼 미리보기, 실시간 스펙트럼 찾기 기능