RIGAKU

없음

- 시료에 X선을 조사한 후, 시료에서 발생되는 형광 X선을 이용하여 분석
- 제품의 화학적 사양을 만족하기 위해 신속한 물질 특성화 및 분석 가능
- 지질, 화학, 금속, 시멘트 등 다양한 종류의 시료 분석 가능
- 다양한 범위의 어플리케이션에서 정확한 비파괴적 원소 분석이 가능
- 분석 시료와 유사한 Matrix를 가진 표준물질이 있으면 정확한 정량 및 정성 분석이 가능
- Be~U까지 경원소~중원소를 sub-ppm 수준 범위의 농도로 분석

1. 고전압 케이블(60kV, 150mA)의 4kW X선 발생기
2. 분광기(Spectrometer) assembly
1) 48 샘플 체인저(sample changer type)
2) 1차 빔 X선 필터(Primary beam X-ray filter): Ni400, Ni40, Al125, Al25
3) 6개 영역 제한 다이어프램(limiting diaphram(0.5, 1, 10, 20, 30, 35 mm))
4) 10개 결정 교환기 및 분석 결정(crystal exchanger and anlyzing crystal): (1~4) LiF(200), PETH, GeH, RX-26
5) 검출기(Detector): Scintillation counter&Seald proportional counter(S-PC)
3. 0.5mm 직경 미세 영역 매핑(mapping)
4. 액체 샘플 부착
5. 샘플 준비 시스템
1) Atlas power press(최대25톤)
2) 자동 전기 비드 샘플러
6. 냉각기형 열 교환기
7. ZSX Software