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없음

HAST(Highly Accelerated Stress Test) 시험기는 전자 기기 및 반도체의 내구성을 테스트하는 데 필요한 극한 환경을 조성하는 다양한 기능을 갖추고 있음
1. 고온 및 고습 환경 조성: HAST 시험기는 85% 이상의 상대 습도와 110°C 이상의 온도를 제공하여 습기와 온도의 영향을 신속하게 재현하여 제품의 내구성 테스트 수행
2. 압력 제어: 시험기 내부의 압력을 제어하여 고압 수증기 환경을 만들어 제품 내부로 수증기가 더 빠르게 침투하며, 전자 부품의 패키지가 물리적, 화학적 손상에 얼마나 잘 견디는지 평가
3. 장시간 테스트 가능: HAST 시험기는 설정된 온도, 습도, 압력 환경에서 96시간 또는 264시간과 같은 장시간 동안 안정적인 테스트를 수행
4. 실시간 모니터링 및 제어: 시험기 내부의 온도, 습도, 압력을 실시간으로 모니터링하고 제어할 수 있는 시스템이 내장되어 있어 시험 진행 중에도 원하는 조건을 유지
5. 다양한 표준 지원: HAST 시험기는 JEDEC와 같은 국제 표준(JESD22-A110, JESD-A118)을 준수하며, 다양한 전자 기기의 테스트 요구 사항을 충족

1. 장비의 역할
- 극한 환경 시뮬레이션: HAST 장비는 고온, 고습, 고압의 극한 환경을 재현하여 전자 기기가 실제 사용 중 마주할 수 있는 조건보다 더 가혹한 환경에서 성능을 평가하여, 이를 통해 제품의 설계 결함이나 내구성 문제를 조기에 발견
- 수명 예측: 전자 부품의 장기적인 성능 저하를 가속화하여 상대적으로 짧은 시간 내에 부품의 예상 수명을 평가하여, 부품이 일정 기간 동안 신뢰성 있게 작동할 수 있는지를 예측
- 품질 검증: 반도체 및 전자 부품 제조업체는 제품 출시 전에 품질을 보증하기 위해 이 시험을 실시
- 제품 개선: 테스트 결과를 바탕으로 제품 설계나 제조 공정을 개선하여 더 나은 내구성을 갖춘 제품을 만들 수 있으며 시험에서 발견된 문제점은 설계 수정의 기초에 활용

2. 장비 성능
- Channel : 4 Channel
- 내부 규격: 300 (mm) × 400 (mm) 이상
- 온도 범위: +110℃~ +140℃ 범위 이상
- 습도 범위: 70~95% RH 범위 이상
- 압력 범위: 0.02 ~ 0.15 MPa 범위 이상
- 온도 정밀도: ±0.3℃이내
- 습도 정밀도: ±2.5% RH 이내
- 소음 정도: 50dB 이하
- 도어 형태: 핸들도어, 자동잠금