Keithley
4200A-SCS-PKB
10년
주장비
시험
전기·전자장비 > 측정시험장비 > 전압/전류/전력측정시험장비
공동활용서비스
2024-08-06
213,864,640원
없음
- 전력반도체 소자에 대해 I-V 및 Pulsed I-V 커브, C-V 커브 등의 전기적 특성 측정 및 평가
- 프로브 스테이션과 연계하여 정밀한 측정 가능
○ 소자 분석기 용도 : MOSFET, BJT, IGBT 등 전력반도체 소자에 대해 I-V, C-V 커브 등의 전기적 특성 평가가 가능하며, 프로브 스테이션과 연계하여 소형 소자에 대해 정확한 포인트를 접촉시켜 낮은 누설전류로 정밀한 측정값 획득 가능함.
○ 소자 분석기 성능 : 측정 가능한 범위의 경우 전압은 ±200mV ~ ±200V까지의 넓은 범위에 대해 측정이 가능하고, 0.2µV (@ 200mV)급의 분해능과 0.012%의 정밀도의 특성임. 전류는 SMU 모듈의 측정 범위를 증폭시켜주는 장치인 프리앰프를 탑재하여 기존 커브트레이서 대비 정밀한 ±1pA ~ ±100mA까지의 범위에 대해 측정이 가능하고, 10aA (@ 1pA)급의 분해능과 10fA급의 정확도를 바탕으로 정밀한 저전류 소자에 대한 신뢰성 있는 결과 획득이 가능함. 또한, Pulsed I-V 측정 기능을 탑재하여 ±40V 범위 (80Vp-p)에 대하여 5ns 샘플링 레이트로 측정이 가능하고, C-V 측정 기능을 탑재하여 1kHz ~ 10MHz의 AC 범위 혹은 ±30V DC bias에 대해 다양한 분석이 가능함.
○ 프로브 스테이션 성능 : 80배 현미경을 탑재하여 육안으로 식별이 어려운 소형 소자에 대해서도 정확한 접촉 포인트 식별이 가능하도록 하며, 0.5µm의 프로브 팁과 2µm급 분해능의 마이크로 포지셔너 탑재로 정밀한 조작이 가능함.
기관의뢰
고정형
건별
[EA] 20,000원
본 장비는 전력변환부품 및 응용모듈에 대하여 극한 환경시험 시행 전후로 내부 소자 및 부품의 물리적 결함 여부와 이에 의해 발생되는 전기적 결함 평가를 위한 장비임. 프로브 스테이션과 연계하여 비교적 사이즈가 작고 정밀한 소자에 대한 측정 테스트가 용이함.
○ 소자 분석기 주요사양
- 전압 공급
⦁ 범위 : ±200mV/ ±2V/ ±20V/ ±200V
⦁ 분해능 : 5µV at 200mV range
⦁ 정밀도 : 0.02%
- 전압 측정
⦁ 범위 : ±200mV/ ±2V/ ±20V/ ±200V
⦁ 분해능 : 0.2µV at 200mV range
⦁ 정밀도 : 0.012%
⦁ 안정화 시간 : less then 100μs to 0.1%
⦁ 입력 임피던스 : > 10 Gohm
- 전류 공급
⦁ 범위 : ±1pA ~ ±100mA
⦁ 분해능 : 50pA at 1µA range
- 전류 측정
⦁ 범위 : ±1pA ~ ±100mA
⦁ 분해능 : 10aA at 1pA range
- 프리앰프
⦁ SMU 모듈의 측정 범위를 증폭시켜주는 장치
⦁ 전류 측정 범위 : ± 1pA ~ ± 10nA
⦁ 최대 전류 측정 분해능 : ± 10aA
⦁ 최대 전류 측정 정확도 : ± 10fA
- Pulsed I-V 측정
⦁ 범위 : ±40V range (80Vp-p)
⦁ 분해능 : 5ns sampling rate
- C-V 측정 지원
⦁ 범위 : 1kHz ~ 10MHz, ±30V DC bias
○ 프로브 스테이션 주요사양
- 5 inch Coaxial Vacuum Chuck
⦁ Coaxial Vacuum Chuck (Al, Sending Anoding Coating )
⦁ From 3 to 6 inch
- Microscope – OLYMPUS – 80x
⦁ Eyepiece : 20x
⦁ Object Lens : 1 ~ 4x
- Micro Positioner body - PB50
⦁ LM cross roller type
⦁ Resolution : 2µm
⦁ Travel : 6mm
- Probe Holder - Cal type or C_type
- Probe Tip - MST_T_0.5µm 10 ea