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장비정보

제작사
Bruker
모델 명
ICONHC35-250

내용연수
5년
구분
옵션/액세서리(보조장치) (주장비:초고속 주사탐침현미경)

용도
분석
표준 분류
화합물 전처리·분석장비 > 분광분석장비 > 달리 분류되지 않는 분광분석장비

장비활용범위
공동활용서비스
취득일
2024-10-17

취득금액
74,000,000원
인증정보
없음
기능
기구축된 주사탐침현미경 장비를 저온에서 고온까지의 열화 환경 노출에 따른 나노 미세구조(층구조, 표면 및 경계 구조, 결함 등) 변화를 in-situ로 평가 가능한 장비
장비 상세설명
본 시스템의 주장비인 주사탐침현미경은 소재의 표면 미소 영역의 모폴로지 측정 및 분석, 기능성 화학소재 표면 연구에 활용 가능한 장비임
이에 고온 히터/냉각 시스템 도입을 통해 폭 넓은 온도 범위 (-35~250℃)를 인가하여 열화 환경 노출에 따른 소재의 물성 변화 및 나노 미세구조 변화 평가가 가능함

이용안내

사용형태
기관의뢰

설치형태
고정형
사용료 형태
건별

장비 사용료
[EA] 30,000원

장비설명

주사탐침현미경 고온 히터/냉각 시스템을 연동함으로써 고분해능 주사탐침현미경의 측정과 저온에서 고온까지의 (-35 ~ 250℃) 열화 환경 노출에 따른 나노 미세구조(층구조, 표면 및 경계 구조, 결함 등) 변화를 in-situ로 평가 가능한 장비

장비 구성 및 성능

주사탐침현미경과 연동 가능한 고온 히터/쿨러, 히터/쿨러 컨트롤러로 구성되어 저온에서 고온까지 (-35 ~ 250℃) 영역에서 폭넓은 온도 범위에서의 주사탐침현미경 이미지 관측이 가능함

1. High temperature heater
- 250℃ 범위까지 승온 가능

2. Heater/cooler
- -35 ~ 100℃ 범위까지 냉각 및 승온 가능

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장비 매뉴얼