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장비정보

제작사
Mel-Build
모델 명
JEOL

내용연수
10년
구분
주장비

용도
분석
표준 분류
광학/전자영상장비 > 현미경 > 투과전자현미경

장비활용범위
공동활용서비스
취득일
2025-09-29

취득금액
80,380,139원
인증정보
없음
기능
- In-situ observation possible
- Tilt Angle: ±30 Degrees(HR)
±65 Degrees(ST)
- Minimum step feed ability :≤1nm/sec
- Minimum continuous feed ability : 3nm/sec
- Maximum continuous feed ability : ≤10nm/sec
- Maximum working distance : 200um
장비 상세설명

실시간 나노 단위 인장 홀더는 투과전자현미경을 통해 시료를 분석할 때 시료의 나노단위 혹은 원자단위의 변화를
응력에 따라 관찰할 수 있는 장비.
전극, 전해질 소재에 걸리는 응력을 분석할 수 있음.
특히 응력에 따른 내부 격자변화의 관찰이 필수적이며 실시간으로 응력을 가해 시료에 대한 분석이 가능하기에 고분자 중심의 바인더 연구 및 실리콘, 주석과 같이 충전시 부피팽창을 크게하는 음극활물질의 변화를 이해하는데 활용할 수 있음. 이와 같은 배터리 소재 연구 뿐 아니라 기계적 강도에 대해 이해가 필요한 모든 샘플에 대해서도 다양한 활용 또한 가능함.

이용안내

사용형태
기관의뢰

설치형태
이동형
사용료 형태
건별

장비 사용료
[Hr] 50,000원

장비설명

실시간 나노 단위 인장 홀더는 투과전자현미경을 통해 시료를 분석할 때 시료의 나노단위 혹은 원자단위의 변화를
응력에 따라 관찰할 수 있는 장비.
전극, 전해질 소재에 걸리는 응력을 분석할 수 있음.
특히 응력에 따른 내부 격자변화의 관찰이 필수적이며 실시간으로 응력을 가해 시료에 대한 분석이 가능하기에 고분자 중심의 바인더 연구 및 실리콘, 주석과 같이 충전시 부피팽창을 크게하는 음극활물질의 변화를 이해하는데 활용할 수 있음. 이와 같은 배터리 소재 연구 뿐 아니라 기계적 강도에 대해 이해가 필요한 모든 샘플에 대해서도 다양한 활용 또한 가능함.

장비 구성 및 성능

In-situ Nano Order Tensile TEM Holder Material Model
Tensil resolution:1nm/step 3nm/sec
Tensil Distance:200μm
Tilt Angle:±30 Degrees(HR)/±10 Degrees(UHR)/:±65 Degrees(ST)
Included :
In-situ Nano Order Tensile TEM Holder Material Model
SOS(Safety Operation Stand) Long
Tilt controller MTC-002 (Safety Certification:CE/FCC)
Torque Management Driver: TQD-10mN

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