IVT
sTDS
10년
주장비
분석
화합물 전처리·분석장비 > 분리분석장비 > 달리 분류되지 않는 분리분석장비
공동활용서비스
2024-09-19
594,000,000원
없음
ㅇ 디스플레이 원료 및 양자점소재 생산공정 무기막 아웃가스 분석
ㅇ 디스플레이 소재/소자 산화물 절연막 증착 공정시 발생하는 가스분자 규명 및 분석
ㅇ 탈착된 가스분자의 흡수/결합을 분석하여 원료품질 향상 연구
ㅇ 초고진공에서 온도조절 중 탈착된 분자를 실시간 분광계로 관찰
ㅇ 물, 수소, 산소, 이산화탄소 미량 검출/분석가능
ㅇ 탈착된 분자의 화학종 정량화
ㅇ 기체방출시스템은 초미량의 Gas 성분을 분석하는 장비로서, 고진공 상태에서 Color filter나 시편을 IR로 가열하여 그 과정 중에서 발생하는 극 미량의 Gas를 분석하는 장비임.
○ TDS(thermal desorption spectroscopy) 온도변화에 따라 시편에서 방출되는 수소기체방출 정량측정 장비임.
○ 청청한 환경에서의 개발/생산이 매우 중요한 반도체, 디스플레이 등 공정에서 진공은 필수임.
○ 진공공정 중의 기체부하 및 기체방출은 필연적으로 발생됨
○ 기체부하 및 기체방출은 전기전자, 나노기술, 반도체/디스플레이 등 첨단산업 공정 발생물의 불량률 및 심각한 공정에러를 유발함
○ 1. 초기상태기체, 2. 공정기체, 3. 미세누출, 4. 기체역류, 5. 기체방출이 있음
○ 시료 표면에 흡착되있던 기체들이 탈리하면서 질량분석기를 통하여 이온화된 잘량을 분석하여 표면상태를 매우 효과적이고 광범위하게 분석
○ 이온분자탈리율, 분자원자종류, 흡착에너지 정량 분석가능
○ 디스플레이공정간 대표기체방출오염원은 H2O, H2, CO2, O2 등이 있으며, 이물질은 공정진공도 저하/시료오염/방전을 유발함
기관의뢰
고정형
건별
[EA] 600,000원
○ TDS(thermal desorption spectroscopy) 온도변화에 따라 시편에서 방출되는 수소기체방출 정량측정 장비임.
○ 청청한 환경에서의 개발/생산이 매우 중요한 반도체, 디스플레이 등 공정에서 진공은 필수임.
○ 진공공정 중의 기체부하 및 기체방출은 필연적으로 발생됨
○ 기체부하 및 기체방출은 전기전자, 나노기술, 반도체/디스플레이 등 첨단산업 공정 발생물의 불량률 및 심각한 공정에러를 유발함
○ 1. 초기상태기체, 2. 공정기체, 3. 미세누출, 4. 기체역류, 5. 기체방출이 있음
○ 시료 표면에 흡착되있던 기체들이 탈리하면서 질량분석기를 통하여 이온화된 잘량을 분석하여 표면상태를 매우 효과적이고 광범위하게 분석
○ 이온분자탈리율, 분자원자종류, 흡착에너지 정량 분석가능
진공챔버
1. 로드챔버 진공도 : 5 x 10-7 mbar 이하
2. 공정챔버 진공도 : 5 x 10-9 mbar 이하
진공시스템
3. 타입 : Dry Pump, TMP Pump
4. Dry Pump : 5 x 10-2 mbar 도달(10분 이내)
5. TMP Pump : 5 x 10-5 mbar 도달(20분 이내)
냉각수공급 및 환경제어유닛
6. 공급유닛 형태 : 냉각수, 공기, 질소 가능
적외선가열기
7. 타입 : 석영 로드 IR 히터
8. 최대가열온도 : 1,400도 이내
9. 승온속도 : 1도 / 초
분석파트
10. 검출기 : 사극자질량분석기(QMS)
11. 검출범위(m/z) : 200 amu 이내
12. 정량분석분해능 : 1.0 x 10-3 wt ppm 이내
13. 수소검출한계 : 1 x 1017 atoms/cm3 이상
시료
14. 분석시료크기 : 20 x 20 x 3 mm 이내
15. 시료형태 : 분말, 시료형태에 따른 석영 홀더
기타
16. 운용 PC 및 S/W 포함
17. 국제규격 표준시료 보정 가능
18. 소모물품(석영보틀, 스테이지)포함