Horiba

없음

○ 소재에 광을 조사하고 이에 따라 외부로 방출하는 광을 분석하여 소재의 광물리적 특성을 분석하는 장비임
○ 합성된 소재의 평가에 필요한 다양한 분석장비 중 자외선-가시광선-적외선 형광광도계는 양자점 및 OLED용 발광소재, 수송층 소재 등의 발광특성 분석 및 에너지 레벨 특성 분석, 결함 분석, 재결합 특성 분석등에 필수적인 장비
○ 자외선~적외선 영역 대응 발광 특성 분석, 시분해 발광 특성 분석, 저온 샘플 스테이지를 이용해서 특정 조건에서 디테일하게 소재 내부에서의 광전자 거동을 분석하고 해석함

○ 대응샘플 종류 : solution/film
○ Lamp type : UV extended Xenon lamp
○ 광원파장범위 : > 230 nm
○ 샘플온도조절 : < 77 K
○ 피크 파장(시분해 광원) : 375±10 nm
○ repetition rate(시분해 광원) : 20 MHz
○ 디텍터 종류 : PMT / InSb
○ 디텍터 파장범위 : 300-1700 nm / 900-5400 nm