엠크래프츠(Emcrafts)
Genesis-2020
11년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
공동활용서비스
2024-12-05
70,041,510원
CE No.ICR Polska/E6000819
- 우수한 분해능: 제품 사양서의 Spec은 대부분 동일하거나 유사하나 실제 촬영시 분 해능에서 확연한 차이가 있음
- 5축 자동System 제공: 자동화된 5축은 X : 90mm, Y : 60mm, Z : 5~60mm, Tilt : -20 ~ 90˚, Rotation : 360˚ 으로 동급대비 가장 폭넓은 시료 이동 관찰이 가능
- 최대 분석시료: 분석가능한 시료의 최대크기가 150mm (Diameter), 60mm (Height)로 여러개의 시료를 동시에 촬영할 수 있어 분석 시간을 절약
- 분석 대기시간 최소: 자체보유한 고진공 기술로 Vacuum : 3min, Vent : 30sec을 구 연, 대기시간을 줄여 분석시간을 줄일 수 있음
- 제진설비(내부 진동제어장치) 설치제공: 자체 보유한 제진 기술로 내부 장착형 제진 장치를 제공하여 별도의 제진대 없이 분석 가능
- 고해상도의 3차원 이미지를 획득하는데 사용되며 다양한 시료 의 표면 형태, 조직, 구조, 결함 등을 파악할 수 있음. 전자를 시료 표면에 주사하고 샘플 표면에 충돌하면서 생기는 반사 전자의 강도 및 위치를 감지하여 이미지를 생성함.
- 고체, 액체, 가스 상태의 시료부터 전자 전도성 및 비전자 전도 성 시료까지 다양한 시료를 분석할 수 있으며, 실시간 관찰이 가능하여 시료에 작용하는 다양한 환경에 대한 반응을 관찰하는데 용이함. 또한 시료를 손상시키지 않고도 다양한 분석을 수행할 수 있다는 장점이 있음.
- 이 같은 이유로 주사형 전자현미경은 나노 및 마이크로 수준의 구조적 특성을 분석 하는데 필수적임.
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 1원
- 고해상도의 3차원 이미지를 획득하는데 사용되며 다양한 시료 의 표면 형태, 조직, 구조, 결함 등을 파악할 수 있음. 전자를 시료 표면에 주사하고 샘플 표면에 충돌하면서 생기는 반사 전자의 강도 및 위치를 감지하여 이미지를 생성함.
- 고체, 액체, 가스 상태의 시료부터 전자 전도성 및 비전자 전도 성 시료까지 다양한 시료를 분석할 수 있으며, 실시간 관찰이 가능하여 시료에 작용하는 다양한 환경에 대한 반응을 관찰하는데 용이함. 또한 시료를 손상시키지 않고도 다양한 분석을 수행할 수 있다는 장점이 있음.
- 이 같은 이유로 주사형 전자현미경은 나노 및 마이크로 수준의 구조적 특성을 분석 하는데 필수적임.
Resolution
: 3nm
(30kV, SE Image)
Magnification
: x10 ~ x300,000
Accelerating voltage
: 1~30 kV
Detector
: SE, BSE Detector
(4-Quadrant Semiconductor type)
Stage system
: X,Y,R,Z,T / 5-aixs (5-axis auto type)
Ion Sputter Coater