Gatan
STEMx System for Grand ARM 300
10년
부대장비(부가장치) (주장비:고성능 원자 분석 투과전자 현미경 )
교육
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 투과전자현미경
2024-05-09
96,968,570원
없음
-물질의 응력 분포 맵핑
-결정 방위 맵핑
-가상 이미지 조리개를 활용한 STEM 이미지 합성
-ptychography를 통한 위상 이미징 활용
본 장비는 투과전자 현미경 장비에 부착이 되어 STEM 이미지 촬영 시 각 픽셀에 2차원 적인 회절 정보를 함께 얻을 수 있는 장비로 현재 OneView IS camera를 이용하여 이미지를 촬영을 한다.
성능은 데이터를 얼마나 빨리 얻는가에 따라 평가되며 데이터를 얻는 시간은 OneView IS camera (1024 x 1024 pixels, 200fps) 조건에서 256 x 256 픽셀의 데이터를 얻는 시간은 328초가 소요된다.
측정된 데이터를 가지고 각 픽셀에서 이미지 정보와 2차원 회절 정보가 포함되기에 이를 이용하여 재료의 회절 정보를 이용하여 물질의 응력 분포 맵, 결정 방위 맵, ptychography를 활용하여 다양한 응용 분야에 활용 할 수 있다.
직접사용
고정형
시간별
[Hr] 100,000원
본 장비는 투과전자현미경 내 STEM 모드에서 역격자공간 회절 패턴을 픽셀 단위로 기록하는 장비로서, 기존 실공간 이미지와 역공간 회절 패턴을 동시에 분석 가능하며, 물질의 변형 정도, 상, 전기장 분석 등을 수행할 수 있는 장비임
1. STEMx 시스템
-STEM 이미지 사이즈 pixels (얻는 시간 s) @OneView IS camera (1024 x 1024 pixels, 200fps)
64 x 64 (14), 128 x 128 x (55), 256 x 256 (328)
2. 소프트웨어
- STEMx Analysis Software (Offline/64-bit)
- STEMx Viewing Software (Offline/64-bit)