Rigaku
ZSX PRIMUS IV
10년
주장비
분석
화합물 전처리·분석장비 > 분광분석장비 > X-선형광분석기
2024-05-10
325,000,000원
없음
베릴륨(Be)부터 우라늄(U)까지 다양한 시료 유형에서 방출된 형광X선을 분석하여 주요 및 미량 원자 성분을 정성적, 정량적으로 분석하는 장비
본 장비는 광범위한 원소 범위를 제공하여 다양한 유형의 시료분석에 적합하고, 낮은 탐지한계를 제공하여 미량원소도 정확하게 분석할 수 있음
- 분석원소 : 4Be ~ 92U
- X-ray generator : 4kW (60kV, 150mA)
- Ultra thin Be windows (30μm)
- Micro mapping (r-θ stage, CCD 장착)
- New Synthetic Multi-layer Crystal(30%이상 intensity 향상)
- High sensitive curved crystals
- F-PC 심선 자동세척기능 (특허)
- S-PC(P10 gas 필요 없음) 또는 F-PC 선택
- 6 종류 diaphragm : 0.5, 1, 10, 20, 30 35mm
- Automatic pressure control 기능
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 30,000원
본 장비는 전자가 방출하는 빛을 측정하여 유기물 및 무기물에서의 특정 원소(4Be~92U)의 정성적, 정량적 분석에 사용되는 파장분산형 형광분석기이다.
본 장비를 사용하여 분말, 고체, 액상의 시료와 얇은 필름의 두께 및 농도를 측정할 수 있으며 고정밀 맵핑 분석을 할 수 있다.
1. X-선 발생장치
- X-선 관 종류: End-Window type Rh
- X-선관 Window 두께(Be) : 30㎛ 이하
- X-선 발생장치 사용전력 : 4kW (60kV, 150mA)
2. 분광기
- 방사형태 : 상면 또는 하면조사
- 분석원소 범위 : 4Be ~ 92U
- 주입가능 분석시료(트레이) : 최대 45개 이상
- 분석타입 : 고체, 필름, 필너, 액체, 분말 등
- 분석환경 : 진공 또는 고순도 공기
- 크리스탈 교환기 : 10개 자동 교환기
- 마이크로 매핑 시스템: r-θ stage, CCD 장착
- 6 종류 diaphragm : 0.5, 1, 10, 20, 30 35mm
- Automatic pressure control 기능