procon

없음

- 나노미터 단위의 X선 집속 기술을 기반으로 3D 비파괴 영상 이미징 제공
- 복잡한 내부 구조를 갖는 소재나 생물 샘플의 정밀 구조를 고해상도로 스캔하여 구조적 결함, 물성 변화, 내부 조성의 변화를 시각적으로 분석 가능
- 나노 단위 해상도를 통해 기존 마이크로 CT로는 구현할 수 없던 수준의 정밀한 분석 가능

- 전자빔을 나노 초점으로 집속시켜 타겟에 충돌시켜 X선을 방출하는 나노포커스 X선 소스를 핵심 기술로 사용
- 일반적인 마이크로포커스 CT보다 100배 이상 높은 해상도를 제공하며, 해상도는 50nm 이하로 구현 가능
- 고정밀 회전 스테이지와 360도 다축 촬영 기능을 통해 복잡한 3D 볼륨 데이터를 정확하게 수집하며, 고감도 디텍터를 통해 투과율이 낮은 재료도 선명하게 촬영 가능