YIC Technologies
EMScannerR
8년
주장비
교육
전기·전자장비 > 측정시험장비 > 전자파측정시험장비
2024-01-15
93,590,820원
없음
- 전자기파 간섭을 일으키는 문제 주파수 확인을 위한 스펙트럴 스캐닝
- 전자기파 방출 소스 확인을 위한 실시간 공간 스캐닝
- 지원주파수 : 150 kHz ~ 8 GHz
- 공간해상도 : 0.06 mm ~ 7.50 mm
- 인쇄회로기판 이미지와 중첩 비교 기능
- 리포트 자동 생성
EMC 및 EMI 문제가 발생한 반도체 회로 및 시스템의 성능 개선을 위해 적용한 대책들이 문제 해결을 위한 적절한 대책인지를 확인하고 문제 해결 경험과 노하우를 쌓기 위해서는 EMC 및 EMI 현상을 언제든지 어디서든지 실시간으로 확인할 수 있는 Real-Time, Spatial Scannable Electromagnetic Scanner를 갖춘 실습 교육환경
직접사용
고정형
시간별
[Hr] 20,000원
EMC 및 EMI 문제가 발생한 반도체 회로 및 시스템의 성능 개선을 위해 적용한 대책들이 문제 해결을 위한 적절한 대책인지를 확인하고 문제 해결 경험과 노하우를 쌓기 위해서는 EMC 및 EMI 현상을 언제든지 어디서든지 실시간으로 확인할 수 있는 Real-Time, Spatial Scannable Electromagnetic Scanner를 갖춘 실습 교육환경
- EMScannerR + SA124B
- 지원주파수 : 150 kHz ~ 8 GHz
- 공간해상도 : 0.06 mm ~ 7.50 mm
- 인쇄회로기판 이미지와 중첩 비교 기능
- 리포트 자동 생성