K-space Associates
MOS Ultra Scan
11년
주장비
시험
물리적 측정장비 > 힘/토크/압력/진공측정장비 > 달리 분류되지 않는 힘/토크/압력/진공측정장비
공동활용서비스
2024-05-23
162,013,660원
없음
1. 센서 반도체 제작 공정 중 제작된 박막의 stress 측정을 목적으로 제작된 TestSystem으로 stress에 대한 정량적 분석 가능
2. 테스트의 대상이 되는 제품의 특성 조건에 맞추어 작성한 테스트 프로그램을 이용하여 장비를 구동하며, 측정된 결과를 수집하여 제품의 신뢰성 확보
1. 부품의 소재/소자 특성을 분석하기 위한 장비로 부품 제작 시 wafer 단위로 소재의 응력 특성과 wafer 단위의 온도변화에 따른 응력 변화를 측정하여 자동차나 온도 변화에 대한 부품의 상태를 알 수 있음
2. 박막으로 제작되는 소재의 특성을 파악함으로써 외주 생산된 박막 소재나 신규 공정 장비와 연계하여 소재의 특성을 분석하여 부품의 성능을 높이는 공정에 적용
기관의뢰
이동형
시간별
[Hr] 70,000원
1. 분석, 계측, 생산에서 사용가능함
2. 센서 반도체 소자 제작 공정중 센서 소재의 특성에 영향을 미치는 스트레스를 분석하여 제작 공정의 적정성을 파악하고 소자 제작 전 특성을 평가하여 최적의 센서 반도체 소자 제작을 위한 장비임
1. Scan Range Programmable up to 200mm, Measurement Range 1 to 4,000MPa, Repeatability 1.3MPa, Accuracy Less than 2.5% or 1 MPa (whichever is larger), Minimum Radius 2.0m, Maximum Radius 33km, Wafer Sizes (mm) 25, 50, 75, 100, 150, 2- Standard detector, laser, optics, servo-motor mirror controller, computer controller, kSA software, complete steel frame enclosure with lockable wheels, and uninterruptable power supply with voltage regulation
2. Built-in flat and 10m radius of curvature reference mirrors
3. Standard sample holder for 50mm, 75mm, 100mm, 150mm, 200mm, and 300mm diameter samples
4. Fully programmable XY scanning stage with options for line scans, selected area mapping, and full area mapping
5. kSA 2-D and 3-D mapping and analysis software
6. One kSA analysis only software license (M-AOS) for offline data analysis on a separate computer