Rigaku
NEX-DE
10년
주장비
시험
기계가공·시험장비 > 재료물성시험장비 > 달리 분류되지 않는 재료물성시험장비
공동활용서비스
2024-07-10
102,279,120원
없음
고고학, 금속 제조, 재활용, 지질학, 환경 과학 등 재료의 원소 구성을 결정하는데 사용되는 다목적 비파괴 분석 기기이다.
시료의 보호와 Na부터 U까지 넓은 범위의 모든 원소 분석이 가능한 에너지 분산 형식을 도입한 x-선 형광분석기이다.
비파괴 분석이 가능하여 귀중한 샘플을 보호하고, 빠른 분석 결과를 제공하며, 특정 원소의 농도를 정량적으로 측정하고 동시에 원소의 존재 여부를 확인할 수 있는 기능을 갖추고 있고, 주기율표의 대부분 원소를 분석할 수 있으며, 경량화된 모델은 현장 분석이 가능하고, 자동 샘플 로딩 및 분석 기능을 통해 작업 효율성을 높이며, 고체 액체, 분말 등 다양한 형태의 샘플을 분석할 수 있어 유연성이 뛰어나고, 직관적인 소프트웨어와 디스플레이로 사용자 친화적인 인터페이스를 제공하며, 화학 시약을 사용하지 않아 환경에 미치는 영향이 적고, 환경 모니터링, 고고학적 분석, 재료 과학, 금속 및 광업 등 여러 산업에서 폭넓게 활용되는 등 고유한 특징을 갖고 있습니다.
기관의뢰
고정형
건별
[EA] 30,000원
다양한 정량, 정성분석을 통해 Na(11)부터 U(92)까지 다원소 동시 분석이 가능한 ED-XRF로 환경 분석이나 산업폐기물, 오일 등 광범위한 어플리케이션에 대응할 수 있습니다.
표면 성분 분석은 분말, 고체, 액체를 포함하여 모든 형태의 시료가 가능하여 Catalysys, Cement, Coatings, Cosmetics, Education, Metal & Alloys, Mining & Refining, Paint & Pigments, Petroleum , Plastics, RoHS, Wood, Wovens & Non-Wovens등의 다양한 분야에서 사용.
1. X-Ray Tube & Target
- 공랭식 End Window Type
2. X-Ray 발생장치
3. Spectroscope 분광기
- 분석 원소 범위 : Na~U
- 경 원소 분석에 필요한 헬륨 퍼지 시스템
4. Detector 검출기
- 검출기 : 고성능 Silicon Drift Detector
- 분해능 : <135eV at 100K cps
5. 소프트웨어
- 정성 및 정량 분석을 위한 기본 매개 변수
- Auto Spectrum Overlap 보정 시스템