Noiseken
ESS-S3011A
10년
주장비
시험
전기·전자장비 > 측정시험장비 > 절연/누설/정전기측정시험장비
2024-08-20
34,110,500원
IEC 61000-4-5 EMC-Part 4-5: Testing and measurement techniques - Surge immunity test,IEC 61000-4-2 EMC-Part 4-2: Testing and measurement techniques - Electrostatic discharge immunity test
- 정전기 방전에 노출되어 발생하는 전자융합부품의 손상 또는 성능 저하에 대한 민감도(감도)를 시험 평가할 수 있으며, 정전기방전시험기의 시험 조건 항목별 설정 범위는 다음과 같습니다. 1) 출력 전압 : 0.20 ~ 30.0 ㎸ ± 5.0 % (30.5 ㎸ max) 동등 이상, 2) 반복 주기 : 0.05 ~ 600 s ± 10.0 % / 매뉴얼 동등 이상, 3) 방전 주기 : 1~60.000 초, 4) 방전 모드 : 접촉식 방전 모드 / 비접촉식 방전 모드. 이와 같이 정전기방전시험은 정전기 방전에 영향을 받는 패키징된 모든 반도체 소자, 박막 회로, 표면 탄성파 소자, 광전자 소자, 혼성 집적 회로 외 다중 칩 모듈 등의 정전기 방전 내성을 시험 평가할 수 있음.
- 정전기 방전 시험기는 피시험 장비를 작동하는 동안에 사용자나 주변 물체로부터 발생할 수 있는 정전기 방전 상황을 모사하여 정전기 방전의 영향으로 장비가 오작동, 성능 저하를 일으키는지 평가하는 시험 기기입니다. 피시험 장비에 인가된 정전기로 인한 전자파 노이즈에 대해 피시험 장비의 전자파 내성 수준을 다음과 같이 등급별로 분류하는데 활용할 수 있습니다. A 등급은 시험 중이거나 종료 후에도 정상 성능 상태를 유지하는 경우, B 등급은 도중 장비의 성능이 저하되더라도 시험 종료 후 정상 상태로 스스로 회복하는 경우, C등급은 시험 도중 장비의 성능이 저하되어도 시험 종료 후 정상 상태로 스스로 회복이 불가하여 전원 개폐 또는 재시동 등을 통해 성능 복원하는 경우로 나눌 수 있음.
- 본 정전기 방전 시험기는 “IEC 61000-4-2 EMC-Part 4-2: Testing and measurement techniques - Electrostatic discharge immunity test“ 시험용으로 사용할 수 있습니다. 정전기 방전 시험은 정전기가 인가되는 지점의 재질에 따라 접촉식 또는 비접촉식 방전 전극을 사용합니다. 접촉식의 경우 전도성 재질의 시험에 활용하며 비접촉식의 경우 절연성 재질의 시험에 활용합니다.
기관의뢰
이동형
기타
[EA] 31,000원
- 정전기 방전 시험기는 피시험 장비를 작동하는 동안에 사용자나 주변 물체로부터 발생할 수 있는 정전기 방전 상황을 모사하여 정전기 방전의 영향으로 장비가 오작동, 성능 저하를 일으키는지 평가하는 시험 기기입니다. 피시험 장비에 인가된 정전기로 인한 전자파 노이즈에 대해 피시험 장비의 전자파 내성 수준을 다음과 같이 등급별로 분류하는데 활용할 수 있습니다. A 등급은 시험 중이거나 종료 후에도 정상 성능 상태를 유지하는 경우, B 등급은 도중 장비의 성능이 저하되더라도 시험 종료 후 정상 상태로 스스로 회복하는 경우, C등급은 시험 도중 장비의 성능이 저하되어도 시험 종료 후 정상 상태로 스스로 회복이 불가하여 전원 개폐 또는 재시동 등을 통해 성능 복원하는 경우로 나눌 수 있음.
- 본 정전기 방전 시험기는 “IEC 61000-4-2 EMC-Part 4-2: Testing and measurement techniques - Electrostatic discharge immunity test“ 시험용으로 사용할 수 있습니다.
- 정전기 방전에 노출되어 발생하는 전자융합부품의 손상 또는 성능 저하에 대한 민감도(감도)를 시험 평가할 수 있으며, 정전기방전시험기의 시험 조건 항목별 설정 범위는 다음과 같습니다. 1) 출력 전압 : 0.20 ~ 30.0 ㎸ ± 5.0 % (30.5 ㎸ max) 동등 이상, 2) 반복 주기 : 0.05 ~ 600 s ± 10.0 % / 매뉴얼 동등 이상, 3) 방전 주기 : 1~60.000 초, 4) 방전 모드 : 접촉식 방전 모드 / 비접촉식 방전 모드. 이와 같이 정전기방전시험은 정전기 방전에 영향을 받는 패키징된 모든 반도체 소자, 박막 회로, 표면 탄성파 소자, 광전자 소자, 혼성 집적 회로 외 다중 칩 모듈 등의 정전기 방전 내성을 시험 평가할 수 있음.
1. 장비 구성
1) Electrostatic Discharge Simulator
2) 시험환경 테이블(목재) & HCP
3) Insulating sheet
4) Vertical coupling plate (탁상형)
5) Vertical coupling plate (바닥형)
6) Discharge resistance cable (470 ㏀)
7) 목재 팔레트
8) Ground plane
9) ESD Elimination Brush (470 ㏀)
2. 장비 성능
1) Output voltage : 0.20 ~ 30.0 ㎸ ± 5.0 % (30.5 ㎸ max) 동등 이상
2) Repetition cycle : 0.05 ~ 600 s ± 10.0 % / Manual 동등 이상
3) No. of time of discharge : 1~60.000 times, preset 1 step or contineous preset
4) Discharge mode : Contact discharge / Air Discharge
5) Radiation level model : Normal mode / Extra mode
6) Trigger mode : Gun trigger / Main trigger / External trigger