Rigaku
SmartLab
10년
주장비
분석
화합물 전처리·분석장비 > 분광분석장비 > X-선회절분석기
2024-04-29
452,520,880원
없음
X-선 회절분석기는 물질을 구성하는 원자의 종류와 배열 상태에 따라 달라지는 X-선 회절각 및 강도를 측정하여 물질의 구조 정보를 정성/정량 분석하는 장비이다.
본 장비는 고출력(6kW)이상 X-선 발생장치를 사용하여 범용 XRD에서 관찰하기 어려운 미량 성분 분석이 용이하고, 고정밀 다축 회전 시료대 (Chi-Phi attachment & Z-axis), in-plane system을 포함하고 있어 conventional XRD 뿐만 아니라 박막 시료의 Grazing Incidence XRD(GID), In-Plane 측정 분석이 가능하여 박막 특성 평가 등 재료 소재 관련 분석이 용이하다.
이차전지용 분말 측정을 위한 Basic Optic system 뿐만 아니라 CBO(Cross Beam Optic)를 장착하여 불필요한 요소(Kβ line , Background 등)를 제거하고 Rough surface에 의한 Peak shift 방지 할 수 있으며, Ge(220) Crystal (monochromator)를 포함한 Parallel Beam Optic System과 300mm Radius Goniometer 등 고분해능 시스템(High Resolution System)을 갖추고 있다.
1. 엑스선 발생장치
1) 최대 출력 : 6kW 이상
(1) 최대 전압 : 45kV 이상
(2) 최대 전류 : 150mA 이상
2) 엑스선원
(1) 타겟 : 구리(Cu) 타겟
(2) K-베타 필터 : 니켈(Ni) 필터
3) 안전 장치를 갖춘 방사선 차폐막 : 포함
2. 고니오미터
1) 기하구조 : 시료 수평형 세타/세타(θ/θ) 구조
2) 고니오미터 반경:300mm 이상
3) 최소 구동 단위 : 0.0001° 이하
3. 슬릿 광학계
1) 입사 슬릿(IS) : 자동 가변 슬릿
2) 수광 슬릿(RS) : 자동 가변 슬릿
3) 입사 솔러 슬릿 : 2.5도
4) 수광 솔러 슬릿 : 2.5도
5) 단색화 발산빔용 입사부 미러 광학계
(1) 변환빔 : K-알파 발산빔 또는 K-알파-1 발산빔
6) 단색화 평행빔용 입사부 미러 광학계
(1) 변환빔 : 구리(Cu) 방사선 평행빔
7) 저각 산란 백그라운드 저감 유닛 : 산란 방지 유닛(Scattering protector unit) 또는 동적 빔 최적화(Dynamic beam optimization)
4. 검출기
1) 타입 : 픽셀 배열 2D 검출기
2) 검출 면적 : 365mm² 이상
3) 픽셀 수 : 65,500개 이상
4) 에너지 분해능 : 380eV 이하
5) 픽셀 크기 : 75μm x 75μm 이하
6) 스캔 모드 : 2D & 1D, 0D 이상
7) 검출기 유지보수
- 냉각 장치, 액체 질소 및 가스 불요
5. 시료 장착부
1) 자동 시료 교환기
(1) 최대 장착 시료 수 : 10개 이상
(2) 시료 회전 기능 : 장착
(3) 알루미늄(φ24 x 2mm) 시료대 : 20개 이상
(4) 유리(φ18 x 0.5mm) 시료대 : 20개 이상
(5) 실리콘 단결정(φ5 x 0.2mm) 시료대 : 4개 이상
2) 다축 회전 시료대
(1) Chi-축 구동 범위 : -5도 ~ +95도 이상
(2) Phi-축 구동 범위 : -360도 ~ +360도 이상
(3) Z-축 구동 범위 : 11mm 이상
3) 벌크 시료대
(1) 최대 장착 크기 : 8인치 이상
4) 충방전 코인셀 거치대
(1) 반사법 측정 거치대 : 1개 이상
(2) 투과법 측정 거치대 : 1개 이상
5) 공기차폐 시료홀더 : 1개 이상
6. 소프트웨어
1) 엑스선 발생장치 제어 및 측정 조건 설정
2) 자동화 기능
- 광학센서에 의한 모든 광학 구성품 인식 및 제어 유닛에 의한 모니터링
3) 표준 측정
4) 측정 안내 기능 - 시스템 경고 및 부정확한 구성품에 대한 수정 안내
5) 수동 측정
6) 자동 정렬
- 고니오미터, 광학계 및 검출기 자동 정렬
7) 정성 및 정량 분석
8) 결정화도 및 결정립 크기 분석
9) 격자 상수 보정
10) 격자 왜곡 분석
11) 리트벨트 분석
12) 클러스터 분석
13) 반사도 측정
14) 배향도 분석 (PF & ODF) 15) 잔류 응력 분석
16) COD 데이터베이스
기관의뢰
고정형
건별
[EA] 55,000원
X-선 회절분석기는 X-ray Tube에서 방출된 X-ray를 시료에 조사함으로 시료의 원자구조에 기인해서 방출되는 회절X선을 검출기로 측정하여 재료의 원자구조를 해석가능
고출력 특성화 엑스선 회절분석기는 분석 목적별로 특성화된 전용 엑스선을 시용하여 최적의 회절 분석 결과를 획득할 수 있는 장치로, 고강도 K-알파 발산빔, 고분해능 K-알파-1 발산빔, 고강도 평행빔, 고분해능 K-알파-1 평행빔, 고강도 집중빔, 고분래능 K-알파-1 집중빔 등을 사용 가능
제조사 : Rigaku Corporation
모델명 : SmartLab 6kW이상
1. X-ray output : 6KW이상
2. X-ray target : Cu target , K-베타필터 (Ni 필터)
3. Goniometer radius : 300mm
4. Hybrid Detector (1D & 0D)
1) Active area : 365mm²
5. X-ray type
1) 변환빔 : K-알파 발산빔 또는 K-알파-1 발산빔
6. Chi-Phi attachment
1) Chi-axis : -5 to +95 deg
2) Phi-axis : -360 to +360 deg
7. 벌크시료대
1) 최대 장착 크기 8“이상