Oxford Instruments
Symmetry S3
5년
부대장비(부가장치) (주장비:전계방출주사전자현미경)
분석
기계가공·시험장비 > 재료물성시험장비 > 달리 분류되지 않는 재료물성시험장비
2024-05-09
363,043,000원
없음
○ 전자후방산란회절기(EBSD)는 주사전자현미경 (SEM) 및 집속이온빔장치(Focused Ion Beam)에서 샘플로부터 결정학정적 정보를 획득하는 기술이며, EBSD는 전자빔이 기울어진 (70 degree tilt) 결정 샘플에 충돌하여 회절된 전자들이 형광 스크린에 패턴을 형성하고, 회절 패턴은 결정 방향을 측정하고 입자 경계 오리엔테이션을 측정하며 다른 재료 간의 차이를 구별하고 지역 결정 완벽성에 관한 정보를 제공하는데 사용될 수 분석 장비임
○ 인장스테이지 (Tensiel Stage)는 Parameter 조정 가능한 범위 내에서 기계적 하중, 균열성장, 박리현상, 슬립면의 형상변화 등에 대한 표면변화를 동적 (dynamic), 정적(static)상태를 관찰할 수 있는 장비임
○ 후방산란전자회절패턴분석기(Electron Backscatter Diffraction)는 주사전자현미경에 장착되어, 가속 전자가 시료에 주입되었을 때 반사되는 전자(후방산란전자)를 검출하여 재료의 방위(orientation)를 분석하는 장비이며, EBSD는 각각의 결정으로 부터 측정된 회절패턴을 이용하여 그것들을 해석함으로써, 그것들의 방위를 분석하여 구조분석 가능
- 장비 사양
1. Image sensor type: low noise CMOS
2. Acquisition speed: 5700pps or faster
3. Image size: 1,244 X 1,024 pixels or better
4. Forescatter diode system: 5 diode or more
○ 마이크로 인장 시험 모듈(Tensile stage)은 주사전자현미경에 장착되어, 마이크로 단위의 인장시험(Tensile test)이 가능하여 난형상 부품을 일부 절단하여 마이크로 단위에서 소재물성을 평가함으로써 벤치마킹 소재 정보를 예측이 가능하며 소재에 대한 인장물성데이터를 취득할 수 있음
- 장비 사양
1. Load Range : 10N to 5,000N or wider
2. Total displacement range: up to 45mm
3. Deformations speed range: 0.3 to 50 μm/sec or wider
4. Tensile stage compatible with SEM
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 149,000원
○ 후방산란전자회절패턴분석기(Electron Backscatter Diffraction)는 주사전자현미경에 장착되어, 가속 전자가 시료에 주입되었을 때 반사되는 전자(후방산란전자)를 검출하여 재료의 방위(orientation)를 분석하는 장비이며, EBSD는 각각의 결정으로 부터 측정된 회절패턴을 이용하여 그것들을 해석함으로써, 그것들의 방위를 분석하여 구조분석 가능
○ 마이크로 인장 시험 모듈(Tensile stage)은 주사전자현미경에 장착되어, 마이크로 단위의 인장시험(Tensile test)이 가능하여 난형상 부품을 일부 절단하여 마이크로 단위에서 소재물성을 평가함으로써 벤치마킹 소재 정보를 예측이 가능하며 소재에 대한 인장물성데이터를 취득할 수 있음
○ 후방산란전자 회절패턴 분석기 (EBSD)
- 전계방출주사전자현미경(FE-SEM/EDS)에 호환
- Image sensor type: low noise CMOS
- Acquisition speed: 5700pps or faster
- Image size: 1,244 X 1,024 pixels or better
- Forescatter diode system: 5 diode or more
○ 마이크로 인장 시험 모듈(Tensile stage)
- Load Range : 10N to 5,000N or wider
- Total displacement range: up to 45mm
- Deformations speed range: 0.3 to 50 μm/sec or wider
- Tensile stage compatible with SEM