Tektronix

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고속 신호 생성과 정밀한 신호 분석이 가능한 고성능 측정 시스템 장비이다. 발생기(Generator) 부분은 2채널(2CH)로 구성되어 있으며, 최대 10GHz의 유효 주파수 출력을 지원하며 전체 대역폭은 13.5GHz에 달해 광범위한 주파수 영역에서 신호를 생성할 수 있고, 최대 6.25Gb/s의 직렬 데이터 비트 속도를 제공하여 고속 디지털 통신 신호의 테스트에 적합한 장비이다. 또한 고속 직렬 신호 분석에 최적화된 High Speed Serial 플러그인이 탑재되어 있어, 다양한 테스트 환경에서 유연한 사용이 가능하다.
오실로스코프(Scope) 부분은 총 4채널(4CH)을 제공하며, 기본 대역폭은 1GHz이지만 필요에 따라 최대 8GHz까지 확장이 가능합니다. 각 채널은 최대 25GS/s의 샘플링 속도를 지원하고, 채널당 최대 62.5M포인트의 기록 길이를 제공하여 장시간 신호 관측이 가능합니다. 특히 초당 50만 개 이상의 파형을 캡처할 수 있는 높은 캡처 속도를 통해 간헐적인 이상 신호도 효과적으로 탐지할 수 있는 장비이다.
다양한 분석 기능도 갖추고 있는 장비로 커서를 이용한 파형 분석은 물론, 수직 및 수평 바 커서를 활용한 정밀 측정이 가능합니다. 또한 TIE(Time Interval Error) 및 위상 노이즈 분석, 고급 지터 분석, 아이 다이어그램(Eye Diagram) 분석 기능을 통해 고속 신호의 타이밍 정확도 및 품질을 종합적으로 평가할 수 있고 이러한 특성은 고속 디지털 회로나 통신 시스템의 설계 및 검증에 매우 유용하게 활용될 수 있는 장비이다.

AWG70002B는 고성능 임의파형발생 기능과 정밀 신호 측정 기능이 통합된 일체형 고속 측정 장비로, 복잡한 연결 없이 단일 시스템 내에서 DUT(Device Under Test)에 고속 신호를 인가하고 그 응답을 실시간으로 측정 및 분석할 수 있는 통합 테스트 플랫폼이다. 고속 직렬 신호, RF 신호 등 고주파 신호 분석에 적합하며, 고속 디지털 회로나 통신 회로 설계에서의 신호 무결성 평가 및 품질 검증에 효과적이다. 신호 발생과 측정 기능을 동시에 제공함으로써 테스트 효율을 극대화하고, 다양한 분석 기능을 통해 복잡한 회로 동작 특성 분석에 유용하게 활용