맥사이언스
K3100NIRX
5년
주장비
분석
기계가공·시험장비 > 반도체장비 > 광학검사기
2023-05-22
160,600,000원
없음
1. 대면적 태양전지 양자효율 및 전류 mapping (resolution : 2.5 um)
2. Double junction 측정 system (QTH bias light : 150W, external Voltage >3V)
3. 온도컨트롤 system (20도~60도, temp. stability : +/-0.5도)
4. loss analysis (Jsc loss fraction 가능)
대면적 (~M12) 태양전지 셀의 양자효율 (전류)를 측정할 수 있는 장치이다.
본 장치의 경우 2.5um 의 최소 resolution으로 스캔을 통한 양자효율 이미지 mapping이 가능한 장치이다.
본 장치의 경우 2단자 이종접합 간 양자효율이 측정 가능하며 온도 및 external light bias, external voltage bias 인가가 가능한 설비이다.
실리콘, 화합물, 페로브스카이트 및 이들의 이종접합, tandem 태양전지의 측정이 가능하다.
셀의 반사도 측정이 가능하다.
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 50,000원
1) 본 물품을 대면적 태양전지 (실리콘 및 탠덤 태양전지)의 양자효율을 측정할 수 있는 분석 장비이다.
2) 본 물품은 파장별 빛에 의한 양자효율을 측정하여 기판에 흡수 된 빛 대비 측정 되는 전류의 비로 효율을 표시하며 파장에 따라 기판 표면으로부터 흡수되는 빛이 다른 원리를 이용하여 구성 층별 효율을 정량화 할 수 있다.
1) light source system 및 quantum efficiency 측정 파트
1. Xe lamp : 300 ~ 1200nm
2. Beam size: 0.7 x 6 mm2
3. Measurement software
4. Loss analysis: Jsc, FF loss analysis
5. Light soruce system
6. Monochrometer
7. optical design
8. Optical chopper (≥10Hz)
9. Automatic filter wheel system
10. DSP lock-in amplifier module
11. Si/Ge or or Si/InGaAs calibration detector
12. IQE measurement module
13. Reflectance measurement function
15. White light bias + external voltage bias function 및 설비
16. Light intensity monitoring function
17. Oscilloscope display module
18. Gold plated measuring sample stage (~M12, material : cu)
19. Computer and LEC with window system
20. Shielding box
21. Voltage stabilizer
2) Double junction measurement system
1. 150W QTH bias light
2. 0~2 sun
3. 1m fiber
4. Optical lens and mount
5. X axis movable slide and magnet
6. Two set of filter(450nm/850nm) or 면광원
7. Double junction measurement software
8. external voltage bias 3V 이상 가능
3) 온도 컨트롤 시스템
1. Integrated with sample stage
2. Temperature control range: 20~60도
3. Temperature stability: +/-0.5도
4) 대면적 자동 mapping system
1. X-Y automatic sample stage
2. Moving distance X-Y: +/- 100mm
3. Resolution: 2.5 um