Agilent Technologies
Cary5000
10년
주장비
분석
화합물 전처리·분석장비 > 분광분석장비 > 자외/가시광/적외선분광광도계
2023-11-08
97,835,760원
없음
-스펙트럼 및 확산 반사를 포함한 재료 연구를 위
한 다양한 각도와 편광 측정 액세서리(UMA) 활
용가능
-데이터 분해능을 최적으로 제어할 수 있도록 다
양한 슬릿 폭(최저 0.01 nm까지 감소) 제공
-큰 시료부: 재현성 있는 결과를 얻기 위해 액세서
리를 빠르게 교체하고 배치할 수 있는 LockDown
방식 사용
-부유 알루미늄 주물 및 이중 Littrow 단색화 장치
를 사용한 노이즈 및 미광 최소화
■ 원자 또는 분자가 외부에서 빛 에너지를 흡수하면 그 에너지의 크기에 따라 전자 전이 및
진동, 회전, 병진 등의 분자 운동을 하는데, 특정 스펙트럼을 통해 이온종이나 물질 함유물의
특징 및 정량 등을 분석.
■ 또한 적분구(integrating sphere, DRA) 장착으로 까다로운 확산 반사 측정을 수행할 수 있으
며, 물질에 광을 투과시킬 때 발생되는 반사율 또는 굴절률 등을 분석하여 물질 표면의 상태 및
흡착 분자 종류를 분석.
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 50,000원
■ 원자 또는 분자가 외부에서 빛 에너지를 흡수하면 그 에너지의 크기에 따라 전자 전이 및
진동, 회전, 병진 등의 분자 운동을 하는데, 특정 스펙트럼을 통해 이온종이나 물질 함유물의
특징 및 정량 등을 분석.
■ 또한 적분구(integrating sphere, DRA) 장착으로 까다로운 확산 반사 측정을 수행할 수 있으
며, 물질에 광을 투과시킬 때 발생되는 반사율 또는 굴절률 등을 분석하여 물질 표면의 상태 및
흡착 분자 종류를 분석.
o Wavelength: (175 – 3300) nm
o Photometric Range: 8 Abs
o Limiting Resolution: UV-Vis 0.048 nm NIR 0.2 nm
o Stay Light: <0.0002 % at 1,420 nm, <0.00045 %
at 2,365 nm
o Spectral Bandwidth: UV-Vis (0.01 – 5.00) nm, 가변식
o Photometric accuracy: <0.00025 Abs
o Wavelength accuracy: 0.08 nm at 190-900 nm
0.4 nm at 760-3000 nm
o Photometric linearity: <0.0007 Abs
o Photometric Noise: 0.00003 Abs
o Absolute specular reflection at variable angele :
5-85°
o Direct transmission and variable angle
transmission : 0-90°
-Integrating sphere(internal DRA)+color software
포함으로 분광반사율 측정.
-스펙트럼 및 확산 반사를 포함한 재료 연구를 위
한 다양한 각도와 편광 측정 액세서리(UMA) 활
용가능
-데이터 분해능을 최적으로 제어할 수 있도록 다
양한 슬릿 폭(최저 0.01 nm까지 감소) 제공
-큰 시료부: 재현성 있는 결과를 얻기 위해 액세서
리를 빠르게 교체하고 배치할 수 있는 LockDown
방식 사용
-부유 알루미늄 주물 및 이중 Littrow 단색화 장치
를 사용한 노이즈 및 미광 최소화