두성기술
DS100DGS
10년
주장비
시험
전기·전자장비 > 측정시험장비 > 전압/전류/전력측정시험장비
2024-03-21
229,000,000원
AEC-Q100
● Total Capa (Max) : 36 DUTs
● DUT Vgs Channels : Max 18 Channels/Board
● Cooling Method: Air cooling
● Gate Bias: 12V ~ 22V, -3.3V ~ -22V
● Gate Frequency: 30Hz ~ 50kHz
● Sampling Time: ≤ 100ms
동적 게이트 스트레스용 고온동작수명시험기는 차량용 전력반도체 소자 단위에 대해 고온/저온 환경에서 Gate에 다양한 주파수를 갖는 Dynamic Pulse Stress를 인가함으로써 최근 각광받고 있는 WBG(Wide-BandGap) 전력반도체 신뢰성의 가장 큰 issue인 gate oxide – channel 계면 특성에 대한 신뢰성 평가 검증이 가능
기관의뢰 직접사용
고정형
시간별
[Hr] 20,000원
- 차량용 전력반도체 소자 단위에 대해 고온/저온 환경에서 Gate에 다양한 주파수를 갖는 Dynamic Pulse Stress 인가
- Wide Bandgap(WBG) 전력반도체 등 신규 반도체 소자 기술이 적용된 차량용 반도체 신뢰성 평가 대응 예정
- WBG(Wide-BandGap) 전력반도체 신뢰성의 가장 큰 issue인 gate oxide – channel 계면 특성에 대한 신뢰성 평가
- 기구부
● Test Item : DGS(Dynamic Gate Stress)
● Weight : 840kg
● System Power : 220V
● Internal Size : 720mm(W) x 700mm(D) x 800mm(H)
● External Size : 1320mm(W) x 1491mm(D) x 2154mm(H)
- Test Electronics
● Total Capa (Max) : 36 DUTs
● DUT Vgs Channels : Max 18 Channels/Board
● Cooling Method: Air cooling
● Gate Bias: 12V ~ 22V, -3.3V ~ -22V
● Gate Frequency: 30Hz ~ 50kHz
● Sampling Time: ≤ 100ms
- PC and Software