Espec
EHS-432M-L
5년
주장비
시험
기계가공·시험장비 > 재료물성시험장비 > 가속수명시험기
2024-07-08
150,442,400원
AEC-Q100,JEDEC 규격 내 HAST
본 초가속스트레스시험기는 소규모의 반도체 단품부터 대형 반도체 모듈 샘플까지 고온고습고압 챔버 조건에서 극한 환경의 스트레스를 인가함으로써 개발 단계에서 패키지 내 흡습 등으로 인한 여러 잠재 불량 유형을 사전 검증하여 설계 개선에 기여할 수 있는 기능을 가지고 있는 장비임
외부 전압인가 기능을 가지고 있어, 반도체 부품에 전압 인가를 통해 동작하는 환경에서 고온고습 조건을 가해줌으로써 실차 환경 모사 가속평가 역할이 가능함
- 온도, 습도, 압력의 환경 가속조건을 동시에 가하여 반도체를 극한의 환경에 노출시키고 환경에 의한 잠재적인 불량요소를 상대적으로 짧은 시간동안 효과적으로 검출해 낼 수 있음. 특히 Air-Hast는 공기 분압이 가능하여 Sn(주석)에 의한 단락현상 및 더 다양한 고장메커니즘을 발견 가능
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 7,000원
반도체용 초가속스트레스시험기는 온도, 습도, 압력의 환경 가속조건을 동시에 가하여 반도체를 극한의 환경에 노출시키고 환경에 의한 잠재적인 불량요소를 상대적으로 짧은 시간동안 효과적으로 검출하는데 활용하는 장비임
▪ Temp : 105 ~ 150 ℃
▪ Humidity : 75 ~ 100 % RH
▪ Pressure Range : 0.02~0.2 MPa
▪ Test Chamber size :∅400 x 600mm
▪ Test Chamber Volume : 80L
▪ Test time : 200 h
▪ Terminal Pin : Min. 20
▪ Air HAST
▪ Safety Devices
▪ Color LCD touch panel
▪ Chamber Certificate
▪ Digital Data Logger