Perkin Elmer
Avio 220MAX ICP-OES
10년
주장비
분석
화합물 전처리·분석장비 > 분광분석장비 > 유도결합플라즈마원자방출분광기
2023-12-20
115,982,480원
KORAS
- 시료 중에 있는 무기성분의 정성 및 정량 분석
- 검출 수준이 극히 낮은 여러 원소를 동시에 분석 가능
아르곤 기체를 플라즈마화 시킨 후 액상의 시료를 작은 입자 상태로 분무시키면 시료를 구성하고 있는 원소가 이온화 되면서 들뜬 상태가 되고 들뜬 상태에서 발출되는 주요 파장을 분석함으로써 원소의 특징을 분석하는 기기로, 시료에 함유된 원소의 종류와 함량을 분석할 수 있으며 함유된 원소를 미량함유(ppb)에서부터 주성분(%)까지를 단시간에 정성 및 정량분석 가능
1. 낮은 아르곤 흐름을 위한 평판형 RF코일
2. 40MHz 이상의 주파수
3. 컴팩트한 크기
4. 컬러 플라즈마 관측 카메라
5. 세로형 토치
6. 플라즈마 전단가스 시스템
7. 유해물질제한지침(RoHS) 준수
8. 고성능 광학 시스템
9. 4 채널, 12 롤러 연동펌프
10. 간섭 보정 : MSF 와 IEC
11. SyngistixSoftware : 데이터 관측, 검량선편집
기관의뢰 직접사용
고정형
시간별
[Hr] 30,000원
아르곤 기체를 플라즈마화 시킨 후 액상의 시료를 작은 입자 상태로 분무시키면 시료를 구성하고 있는 원소가 이온화 되면서 들뜬 상태가 되고 들뜬 상태에서 발출되는 주요 파장을 분석함으로써 원소의 특징을 분석하는 기기로, 시료에 함유된 원소의 종류와 함량을 분석할 수 있으며 함유된 원소를 미량함유(ppb)에서부터 주성분(%)까지를 단시간에 정성 및 정량분석 가능
1) Solid-state CCD array detector
2) Flexible Axial & Radial Viewing
3) Echelle Based Polychromator
4) High-Speed, high-resolution double monochromator
5) Fast Data Conversion(FDC)
6) Automatic QC Check
7) Post Processing of all analytes
8) 40MHz free running controlled Solid State
RF Generater
9) 1W RF Increasement available
10) True Power Control (TPC) for stable plasma
11) Automatic Flow Controller (MFC)
12) Dynamic wavelength stabilization
13) Viewing of Plasma via USB camera
14) Flate Plate Plasma Technology
15) Cyclonic Spray Chamber with Concentric
Nebulizer
16) ISO 9001 certified instrument
1. 라디오 주파수 발생장치
1) 라디오 주파수 : 40MHz 이상 또는 동동 성능 이상
2) 형식 : 자유발진형 또는 동동 성능 이상
3) 코일 방식 : 플랫 플레이트 또는 동동 성능 이상
4) 주파수 출력 : 1000 - 1500 watts 이상, 1 watt씩 컴퓨터 조정 가능 또는 동동 성능 이상
2. 시료 도입 장치
1) 분무기 : 교차흐름 분무기 또는 유리 농축형 분무기 또는 동동 성능 이상
2) 화학적 강도 : 염산, 질산, 황산, 인산, 불산, 수산화나트륨, 등의 용액에도 견딜 수
있어야 한다. 또는 동동 성능 이상
3) 분무함 : 불산에 견디는 스콧타입 또는 유리재질의 회전형 분무함 또는 동동 성능 이상
4) 토치 : 2.0mm 내경의 알루미나 인젝터를 갖춘 조립형 토치 또는 동동 성능 이상
5) 연동펌프 : 4채널 이상의 컴퓨터 조정 기능 또는 동동 성능 이상
3. 아르곤 흐름 조절
1) 플라즈마 아르곤 흐름 : 컴퓨터 조정, 0 - 17 L/min, 1 L/min 씩 증감 또는 동동 성능 이상
2) 보조 아르곤 흐름 : 컴퓨터 조정, 0 - 2.0 L/min, 0.1 L/min 씩 증감 또는 동동 성능 이상
3) 분무기 아르곤 흐름 : 컴퓨터 조정 mass flow controller,
0 – 1.5 L/min, 0.01 L/min 씩 증감 또는 동동 성능 이상
4) 플라즈마 꼬리 제거 : 압축공기 전단가스(분당 18~25리터) 또는 동등 성능 이상의 기술
4. 분광계
1) 타입 : 이중 스펙트로미터 광학 시스템 또는 동동 성능 이상
2) 측정 분해능 : 200nm에서 0.009 이하 또는 동동 성능 이상
3) 파장 범위 : 165 – 770nm 이상 또는 동동 성능 이상
4) 초점거리 : 0.3 미터 이상 또는 동동 성능 이상
5) 플라즈마 관측 : 축방향과 횡방향 관측, X&Y 컴퓨터조절 가능 또는 동동 성능 이상
6) 관측높이조절 : 횡방향 관측 시 관측높이 0~30mm 이상 조절, 소프트웨어에서 조절 또는 동동 성능 이상
7) 광학계 환경 : 항온 및 가스 충진 또는 동동 성능 이상
8) 내진 설계 : 충격 흡수대 또는 동동 성능 이상
9) 파장 보정 시스템 : 수은 방출선 253nm 또는 동동 성능 이상
10) 플라즈마 창 : 내부 장착 카메라로 플라즈마 지속관측 가능 또는 동동 성능 이상
5. 검출기 시스템
1) 방식 : Dual backside-illuminated CCD 배열 검출기 또는 동동 성능 이상
6. 시스템 제어장치
1) CPU : Core i5 이상 또는 동동 성능 이상
2) 램 : 8GB 이상 또는 동동 성능 이상
3) HDD : 1TB 이상 또는 동동 성능 이상
4) 운영 시스템 : 윈도우 10 프로페셔널 또는 동동 성능 이상
5) 모니터 : 24 인치 이상의 LCD 또는 동동 성능 이상
6) 레이져 프린터 또는 동동 성능 이상
7. 소프트웨어
1) IEEE-488 컴퓨터보드 또는 동동 성능 이상
2) 다중 작업을 위한 윈도우 환경 또는 동동 성능 이상
3) 참고 발광선 : 35,000선 이상의 발광선 또는 그보다 우수 또는 동동 성능 이상
4) 진보된 데이터 후처리 ; 재처리, 재형식 지정, 데이터 송신 또는 동동 성능 이상
5) 고 분해능 그래픽 또는 동동 성능 이상
6) 이송 광학계의 자동 배열 기능 또는 동동 성능 이상
7) 스크린 상의 그림 메뉴 또는 동동 성능 이상
8) 전통적인 간섭 원소 보정 또는 동동 성능 이상
9) 다중 내부 표준물 첨가 기능 또는 동동 성능 이상
10) 자동 신호 적분 또는 동동 성능 이상
11) 동적인 바탕선 보정 또는 동동 성능 이상
12) 평상 method의 자동 생성 및 데이터 측정 시스템 또는 동동 성능 이상
13) 최적화 파라미터 찾기 또는 동동 성능 이상
14) 다중 성분 광학 적용 방법 (MSF) 또는 동동 성능 이상
15) 연속 분석형 모드 또는 동동 성능 이상
8. 자동시료주입 장치
1) 용량 : 최대 270개 이상의 포지션 또는 동동 성능 이상
2) 프로브 암 속도 : 최대 초당 330 mm 까지 사용자 설정 가능 또는 동동 성능 이상
3) 펌프 흐름 속도 : 최대 분당 80 mL 까지 사용자 설정 가능 또는 동동 성능 이상
4) 랙 타입
- 3 by 7 : 50mL, 21 positions 또는 동동 성능 이상
- 5 by 12 : 15mL, 60 positions 또는 동동 성능 이상
- 6 by 15 : 13mL, 90 positions 또는 동동 성능 이상
5) 자가진단 기능 내장 또는 동동 성능 이상