MCC
LC-2 H1
11년
주장비
시험
기계가공·시험장비 > 재료물성시험장비 > 가속수명시험기
2023-08-30
1,107,970,500원
JESD22-A108,AEC-Q100-005
○ 일반 온도 모드 : 전류 소비가 높고, 온도 산포가 큰 시스템반도체 IC 별 온도 제어가 가능한 정밀한 평가
○ 고온 온도 모드 : 고온(125℃) Oven의 온도 설 정 후 시스템반도체의 동작 상태를 벡터 등의 기능을 활성화
하여 평가
○ 오븐 온도 : 공압식 (50℃ to 150℃), 수냉식 (25℃ to 90℃)
○ 진단(Diagnostics) BIB : 9.5V, 30V
○ 시스템 컨트롤러 컴퓨터
○ 장비 역할 : 반도체의 개발 후 필드에서의 동작 환경(Bais, Vector, Operating Freq. 등)을 모사하는 장비로써,
고온 125℃의 조건에서 반도체의 수명을 예측하여 설계, 개발, 생산에 있어 가장 중요한 동작의 신뢰성을 확보
○ 장비활용
- 반도체 국제 규격 (JESD22-A108, AEC-Q100-005) 인증평가
- 시스템반도체의 동작 벡터가 필요한 제품의 수명시험 평가
- 동작 상태의 디바이스를 온도 및 전압 가속 시뮬레이션 시험 평가
- 가속 시험 진행으로 수명(MTTF)및 고장률 예측 평가
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 6,700원
○ 장비 역할 : 반도체의 개발 후 Field에서의 동작 환경(Bais, Vector, Operating Freq. 등)을 모사하는 장비로써,
고온 125℃의 조건에서 반도체의 수명을 예측하여 설계, 개발, 생산에 있어 가장 중요한 동작의 신뢰성을 확보
○ 장비 기능
- 일반 온도 모드 : 전류 소비가 높고, 온도 산포가 큰 시스템반도체 IC 별 온도 제어가 가능한 정밀한 평가
- 고온 온도 모드 : 고온(125℃) Oven의 온도 설 정 후 시스템반도체의 동작 상태를 벡터 등의 기능을 활성화하여 평가
○ 시험오븐 온도 : 공압식 (50℃ to 150℃), 수냉식 (25℃ to 90℃)
○ 진단(Diagnostics) BIB : 9.5V, 30V
○ 시스템 컨트롤러 컴퓨터를 포함