Keithley Instruments
4200A-SCS
4년
주장비
분석
전기·전자장비 > 측정시험장비 > 전압/전류/전력측정시험장비
2020-09-09
38,900,000원
1) 전압공급
. 범위 : ±200mV/ ±2V/ ±20V/ ±200V
. 분해능 : 5μV at 200mV range
. 정밀도 : 0.02%
2) 전압측정
. 범위 : ±200mV/ ±2V/ ±20V/ ±200V
. 분해능 : 1μV at 200mV range
. 정밀도 :0.012%
. 안정화 시간 : less then 100μs to 0.1%
. 입력 임피던스 : > 10 Gohm
3) 전류공급
. 범위 : ±1pA to ±1A
. 분해능 : 50pA at 1μA range
4) 전류측정
. 범위 : ±1pA to ±1A
. 분해능 : 100aA at 1pA range
5) Customized Software
. 기존 실험실 보유장비 E4980A 등 연동사용 지원 및 Capacitance-Voltage측정 프로그램 지원
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 100,000원
- 반도체 및 나노 디바이스 상태에서의 전기적인 특성을 측정하여 물성을 분석할 수 있다
- 소재 및 프로세스 개발에 대한 연구, 신뢰성 및 고장 분석 연구를 가속화할 수 있는 장치이다.
- 반도체의 누설전류 측정, 항복 전압 측정, 전도도 및 저항 측정, 디바이스 수명 예측,
Hot carrier test 등 다양한 파라미터 측정이 가능하다.
- 부가적인 기능으로 반도체 특성측정에 관련된 외부기기 즉, Probe station, LCR 미터, Pulse Generator, 스위칭 시스템 등을 제어하는 기능이 있어 모든 반도체 소자 개발 및 분석이 가능하다. 상기 장비는 일반적으로 반도체 제조회사의 분석실이나 일반 연구소 및 대학의 반도체 소자 실험실에서 널리 사용되고 있다.
- 독립형 PC형태로 빠른 테스트 설정, 강력한 데이터 분석 기능을 제공.
- 테스트 결과의 그래프 표출 및 측정 데이터 값 저장.
- 내장 IEEE-488B 및 Ethernet 인터페이스.
- 넓은 스크린 1920x1080 해상도의 고화질 디스플레이 표출로 실험 및 테스트에 용이하며, 터치스크린 방식.
- 고급 테스트 정의, 매개 변수 분석, 그래프 및 자동화를 위한 제어 능력.
○ 반도체 소자 측정 및 특성 분석 장비
- 반도체 및 나노 디바이스 상태에서의 전기적인 특성 측정하여 물성분석 가능
- 반도체의 누설전류, 항복 전압, 전도도 및 저항, 디바이스 수명, Hot carrier test 등 다양한 측정 가능
- 반도체 특성측정에 관련된 외부기기(Probe station, LCR meter, Pulse Generator, switching system)을 제어하는 기능이 있어, 모든 반도체 소자 개발 및 분석이 가능하다.
- 독립형 PC형태로 빠른 테스트 설정, 강력한 데이터 분석 기능을 제공.
- 테스트 결과의 그래프 표출 및 측정 데이터 값 저장.
- 내장 IEEE-488B 및 Ethernet 인터페이스.
- 1920x1080 해상도의 고화질 디스플레이 표출로 실험 및 테스트에 용이하며, 터치스크린 방식.
- 고급 테스트 정의, 매개 변수 분석, 그래프 및 자동화를 위한 제어 능력.