미츠토요
FTA-W4S3000-D
10년
부대장비(부가장치) (주장비:첨단소재복합환경내구시험기)
계측
기계가공·시험장비 > 성형/가공장비 > 달리 분류되지 않는 성형/가공장비
2023-04-28
38,950,000원
- 제품의 표면을 스타일러스로 접촉하여 측정하는 장비이며, 측정한 데이터를 활용하여 표면 거칠기를 분석하고 연구개발에 필요한 데이터로 활용할 수 있는 장비여야 한다.
- 조도측정기 전용 시편을 통해 사용자가 자체적으로 교정작업을 실시하고, 조이스틱을 활용하여 사용 편이성이 있는 장비여야 한다. 또한 소프트웨어를 활용하여 측정점을 통해 지역 산업의 연구개발에 적용할 수 있는 장비여야 한다.
- X축, Z1축(검출부), Z2축(칼럼)의 CNC 제어가 가능한 장비여야 한다.
- 소프트웨어, 조이스틱 모두 구동속도 제어가 가능한 장비여야 한다.
- 조이스틱 패널에도 측정을 할 수 있는 측정기능이 내장되어야 한다.
- 측정 중 간섭을 최소화하기 위해 검출부, 구동부를 내부 배선 방식을 채택한 장비여야 한다.
- 측정 개시위치부터 측정데이터 수집 개시까지의 거리를 0.05mm로써 측정길이의 확보가 어려운 단면이나 협소한 곳을 측정하기 용이해야 한다.
- 다른 검출기로부터 교체를 할 경우 컨트롤러의 전원을 끄지 않고 별도 공구 없이 간편하게 검출기를 교체할 수 있는 섬턴 클램프 부착장비여야 한다.
- 상하방향의 측정이 가능하며 크랭크 측정 검출기 홀더가 부착 가능한 기기여야함
- 측정 데이터의 수집 및 저장, 관리차트, 공정능력 등 실시간으로 관리하고 다른 측정기와 데이터 연계가 가능한 통계적 공정 관리(SPC : Statistical Process Control)가 연동 가능한 소프트웨어가 적용된 장비여야 한다.
- Sa, Sq와 같은 높이 방향뿐만 아닌 공간, 복합 기능과 관련된 3D측정평가 파라미터의 해석평가 가능한 프로그램이 탑재될 수 있어야 한다.
- 표면조도측정평가 기능과 미세윤곽형상평가의 혼용을 위해 검출기의 추가 부착이 가능한 기기여야 한다
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 40,000원
- X축, Z1축(검출부), Z2축(칼럼)의 CNC 제어가 가능한 장비여야 한다.
- 소프트웨어, 조이스틱 모두 구동속도 제어가 가능한 장비여야 한다.
- 조이스틱 패널에도 측정을 할 수 있는 측정기능이 내장되어야 한다.
- 측정 중 간섭을 최소화하기 위해 검출부, 구동부를 내부 배선 방식을 채택한 장비여야 한다.
- 측정 개시위치부터 측정데이터 수집 개시까지의 거리를 0.05mm로써 측정길이의 확보가 어려운 단면이나 협소한 곳을 측정하기 용이해야 한다.
- 다른 검출기로부터 교체를 할 경우 컨트롤러의 전원을 끄지 않고 별도 공구 없이 간편하게 검출기를 교체할 수 있는 섬턴 클램프 부착장비여야 한다.
- 상하방향의 측정이 가능하며 크랭크 측정 검출기 홀더가 부착 가능한 기기여야함
- 측정 데이터의 수집 및 저장, 관리차트, 공정능력 등 실시간으로 관리하고 다른 측정기와 데이터 연계가 가능한 통계적 공정 관리(SPC : Statistical Process Control)가 연동 가능한 소프트웨어가 적용된 장비여야 한다.
- Sa, Sq와 같은 높이 방향뿐만 아닌 공간, 복합 기능과 관련된 3D측정평가 파라미터의 해석평가 가능한 프로그램이 탑재될 수 있어야 한다.
- 표면조도측정평가 기능과 미세윤곽형상평가의 혼용을 위해 검출기의 추가 부착이 가능한 기기여야 한다
Ⅱ. 장비의 구성
1. 본체: 1set
2. 소프트웨어: 1set
3.액세서리: 각 1 set
- 컴퓨터
- 모니터(23인치이상)
- 레이져 칼라 프린터
- MULTI TAB
- POWER CABLE
- X/Y Cross Table & Vice
- Work Table
Ⅲ. 성능 및 규격
1. 본체
동등 또는 이상의 성능을 충족할 것
- Z1축(검출부) 측정범위 : 800 ㎛ / 80 ㎛ / 8 ㎛
- Z1축(검출부) 측정유닛 : 차동 인덕턴스
- Z1축(검출부) 분해능 : 0.01 ㎛(800㎛), 0.001 ㎛(80㎛), 0.0001 ㎛(8㎛)
- 진직도 : (0.05+0.001L)㎛ L=구동길이(mm)
- 측정력 : 0.75mN
- 스타일러스 팁 형상 : 60°, 2㎛R, 다이아몬드
- X축(구동부) 측정범위 : 100 mm
- 측장유닛 : 고정도 리니어 엔코더(X축), ABS 리니어 엔코더(Z2축)
- 분해능 : 0.05㎛(X축), 1 ㎛(Z2축)
- Z2축(컬럼) 이동범위 : 500 mm
- 구동속도 : X축(소프트웨어 0~80 mm/s, 리모트박스 0~40 mm/s)
Z2축(소프트웨어 0~30 mm/s, 리모트박스 0~30 mm/s)
- 측정속도 : 0.02, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0, 5.0, 10, 20, 30 mm/s
- 검출기 교환 : Hot Swap 기능을 통해 공구 없이 검출기 탈부착 가능
- 베이스 사이즈 : 1000 x 450 mm
- 베이스 재질 : 반려암
- 정도 보증 온도 범위 : 19 ~ 21℃
- 정도 보증 온도 구배 : 2.0℃ / 8H
- 사용 온도 범위 :5 ~40℃
- 사용 습도 범위 :20~80% RH
- 전원사양 : 100~120 V, 200~240V ±10%, AC 50/ 60 HZ
- 소비전력 : 400 W
2. 소프트웨어
- 표준규격 :JIS1982 / JIS1994 / JIS2001 / ISO1997 / ANSI / VDA
- 파라미터 : Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, PΔq, Pm(rC),
Pmr, Pδc, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz, Rt, Rc, RSm, RΔq, Rm(rC),
Rmr, Rδc, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, WΔq,
Wm(rC), Wmr, Wδc, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rx, AR, R, Wx,
AW, W, Wte, Ry, RyDIN, RzDIN, R3y, S, HSC, Lo, Ir, Δa, λa, λq, Vo,
Htp, NR, NCRX, CPM, SR, SAR, NW, SW, SAW
- 평가곡선 : 단면 곡선, 조도 곡선, 노파 기복 곡선, 기복 곡선, 구름 원기복 단면 곡선, 구름 원 기복 곡선, 인벨로프 레지듀얼곡선, DF곡선 (DIN4776 /ISO13565-1), 조도 모티프 (엔벨로프 기복 곡선은 모티프 평가시에 표시)
- 해석그래프 : 부하곡선, 진폭 분포 곡선, 파워 스펙트럼, 자기 상관, Walsh 파워 스펙트럼, Walsh 자기 상관, 산높이 분포, 경사각 분포, 파라미터 분포(마모량, 중첩은 윤곽해석으로 면적 등의 해석 기능)
- 곡선 보정 : 최소 이승 직선, R면 보정, 타원 보정, 포물선 보정, 쌍곡선보정, 코닉 보정, 다항식 보정(자동 또는 임의 2차 7차), 보정 없음