Hirayama
PC-422R8D
5년
주장비
시험
기계가공·시험장비 > 재료물성시험장비 > 달리 분류되지 않는 재료물성시험장비
2023-09-01
199,680,674원
AEC-Q100
- 반도체 전압인가 가속스트레스 시험기는 온도, 습도, 압력의 환경 가속조건에서 반도체에 동작전압을 인가함으로써 극한의 환경에 노출시키고, 환경에 의한 잠재적인 불량요소를 상대적으로 짧은 시간동안 효과적으로 검출하는데 활용
- B-HAST, THB 등 반도체 환경시험 가능한 설비로 AEC-Q 평가 대응이 가능
-본 장비는 개발중인 반도체 소자, 모듈, 시스템 등의 환경평가 진행을 위한 장비로, 동작전압 인가 상태에서 일정한 고온고습 환경을 챔버 내 조성함으로써 가속스트레스시험을 통해 단기간 내 해당 반도체가 목표로 하는 수명을 만족하는지 여부를 평가하는 장비임
-반도체 및 전장부품의 복합화와 신제품 개발에 대응하기 위한 다양한 동작환경 가속 모사가 가능하며, 온도, 습도, 압력의 복합 스트레스를 소자에 인가하여 반도체 소자의 특성 변화 확인 가능함
-85℃/85% , 125℃/80% 평가 등 국제규격 명시된 평가 진행 가능
Temperature Range: RT~150℃
Temperature Precision: ± 1 ℃
Humidity Range: 75~100% RH
Pressure Range: 0.2~2.0 kg/cm2G
Chamber size: 420Φ x 657D (84.4L) x 2
100 bias
Air HAST 평가 가능
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 10,000원
- 반도체 전압인가 가속스트레스 시험기는 온도, 습도, 압력의 환경 가속조건에서 반도체에 동작전압을 인가함으로써 극한의 환경에 노출시키고, 환경에 의한 잠재적인 불량요소를 상대적으로 짧은 시간동안 효과적으로 검출하는데 활용
- B-HAST, THB 등 반도체 환경시험 가능한 설비로 AEC-Q 평가 대응이 가능
- B-HAST 시험 진행시 Air-Hast 기능을 통해 휘스커 성장에 의한 고장을 검출할 수 있으며 대량(100개)의 시료를 동시에 시험을 하여 개발일정 단축에 기여 가능
- 포화/불포화 증기가압시험을 통해 반도체 금속 영역의 부식을 가속시키는 신뢰성 시험이 가능
- 2개 챔버로 구성
- 각 챔버 사이즈 : 400 dia. X 600 Depth(mm)
- 챔버 재질 : SUS316L
- 안전사양 : 누전차단기, 히터이상, 안전도어, 온도퓨즈, 안전밸브 등
- 자동 용수 공급 시스템
- Power source : Single-phase AC220V
- 압력 제어 : 0.2~2.0 kg/cm2G 범위
- 온도 제어 RT℃~150℃, 정밀도 ±1℃
- 습도 제어 70~100% RH, 정밀도 ±3%