Hitachi
SU8600
10년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
공동활용서비스
2025-01-17
438,214,360원
없음
OLED 공정개발을 위한 평가 지원
- OLED TFT 소자, 증착박막 표면분석
- 공정 중 이물 및 내부결함 불량 원인 정성/정량 분석
- 기초 소재 입자 성상 및 표면 형상 분석
- 미소영역에 대한 EDS 성분분석 및 mapping
디스플레이산업 중소기업 R&D 연구개발 지원
- 미세형상 고해상도 관찰 및 정량/정성 성분분석을 통한 중소기업의 R&D 지원
고분해능 전계방사형 주사전자현미경은 가속화 된 전자빔을 시료 표면에 주사하였을 때 발생되는 2차 전자와 후방산란전자를 영상화하여 미세영역을 고해상도로 관찰하고 EDS Detector로 성분분석을 할 수 있는 장비로 디스플레이, 반도체, 소재, 기계부품 등 주요산업에서 표면형상 관찰, 불량원인에 대한 미세형상 및 EDS를 활용한 정성/정량 성분분석 등 불량원인 분석에 활용
기관의뢰 직접사용
고정형
시간별
[Hr] 110,000원
고분해능 전계방사형 주사전자현미경은 가속화 된 전자빔을 시료 표면에 주사하였을 때 발생되는 2차 전자와 후방산란전자를 영상화하여 미세영역을 고해상도로 관찰하고 EDS Detector로 성분분석을 할 수 있는 장비로 디스플레이, 반도체, 소재, 기계부품 등 주요산업에서 표면형상 관찰, 불량원인에 대한 미세형상 및 EDS를 활용한 정성/정량 성분분석 등 불량원인 분석에 활용
1. Electron optics
1) High stability Schottky thermal field emitter or Cold-cathode field emission type
2) Electron Beam Resolution
- 0.6 nm at 15 kV or less
- 0.9 nm at 1 kV or less
3) Accelerating voltage range : 500 V to 30 kV or wider
4) Magnification : x20 to x2,000,000 or wider
5) Sample landing voltage : Min. 20 V or less
6) Fully automated optic alignments should be supported.
2. Detectors
1) Detector : Dual or more secondary electron detector should be built-in.
2) Detecting signals
- SE(Secondary Electron)
- BSE(Backscattered Electron)
- SE + BSE mixing
3) Camera navigation system
4) Chamber view
3.SDD type EDS (129 eV)
1) LN2 free type detector
- SDD detector, 60㎟ or larger active area
- Energy resolution : 129 eV
- Detecting element range : Be(4) to Am(95) or wider
2) Data signal processing unit
3) Analysis software : SU8600 operation program