(주)이엘피

없음

1. OLED 패널 상태의 양품을 확인하기 위해 전기적인 신호를 인가해 점등상태에서 다양한 불량을 검출 가능


2. OLED 패널에서 발생하는 Mura, Particle, Spot, Line, Cell 불량 등의 문제점 파악 및 해결 방안 제시


3. 광학 특성 검사로 패널 색 좌표, 색 온도, MTP(Multiple Time Programmable), 휘도, 분석과 다양한 분석 알고리즘 을 통한 불량 검출 및 수정이 가능

OLED 점등검사기의 역할


불량 검출: OLED 패널에 전기를 인가하여 실제로 화면이 켜지도록 한 후, 화면의 정형계 불량(외형적인 문제), MURA 불량(얼룩이나 색상 불균일), 휘도 불량(밝기 문제), 색상 불량, 이물질 등을 정밀하게 검출합니다. 육안 검사와 함께 비전 시스템(Vision System)을 활용하여 자동화된 방식으로 불량을 찾아냅니다.


생산 수율 향상: 불량품을 초기에 걸러내고, 불량의 원인을 분석하여 생산 공정의 문제점을 개선하는 데 도움을 줍니다. 이는 전체적인 OLED 패널의 생산 수율을 높이는 데 기여합니다.


품질 확보: 최종 소비자가 사용할 디스플레이의 시각적 성능을 정확히 측정하고 보정하여 고품질의 제품을 시장에 공급할 수 있도록 합니다.