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장비정보

제작사
Rigaku
모델 명
SmartLab SE

내용연수
10년
구분
주장비

용도
분석
표준 분류
기계가공·시험장비 > 재료물성시험장비 > 달리 분류되지 않는 재료물성시험장비

장비활용범위
공동활용서비스
취득일
2024-08-30

취득금액
262,286,000원
인증정보
없음
기능
○ X선 회절분석기는 원자가 규칙적으로 배열된 시료에 X-선을 입사하여 각 원자로부터 산란한 X-선의 간섭현상에 의해 나타나는 회절 패턴을 이용하여 결정구조와 구성상을 분석하는 장비임
장비 상세설명
○ 본 장비는 고온(~1300℃)까지 온도를 올리면서 온도 변화에 따른 상변화를 실시간으로 분석할 수 있으며, 시료 수평형 고니오미터를 활용하여 분말 소재의 분석이 용이하고, 다양한 광학계 및 입사빔을 분석목적에 따라 간단히 선택하여 기존의 X-선 회절분석기에 측정하기 어려운 다종의 분석이 신속히 가능함
○ 분말 및 소재부품의 상온 및 온도변화에 따른 상(phase)변화 등 다양한 특성을 분석하고, 이들 특성이 소재부품의 물성에 미치는 관계를 규명이 가능한 장비임

이용안내

사용형태
기관의뢰

설치형태
고정형
사용료 형태
건별

장비 사용료
[EA] 40,000원

장비설명

X-선의 간섭현상에 의해 나타나는 회절 패턴을 이용하여 결정구조와 구성상을 분석하는 장비임
내부에 고온용 모듈을 장착하여 in-situ 모드로 온도에 따른 결정상 및 상변화를 관찰하면서 실시간으로 미소 영역의 격자변형 거동을 분석, 수평형 고니오미터를 활용하여 기존 X선 회절분석기에서 측정하기 어려운 분말부터 박막, 액상 소재의 실시간 결정구조 분석이 가능한 장비임

장비 구성 및 성능

· 엑스선 발생장치 : 엑스선관 + 방사선차폐막
· 고니오미터 : 스캔 축 + 입사부 + 검출부
· 슬릿 및 광학계 시스템 : 입사 슬릿 + 수광 슬릿 + 입사부 솔러 슬릿 + 수광부 솔러 슬릿 + 단색화 발산빔용 입사부 미러 광학계 + 단색화 평행빔용 입사부 미러 광학계
· 검출기 : 다채널 반도체 검출기
· 시료대 : 자동 시료 교환기 + 다축 회전 시료대 + 대형 기울임 시료대 + 온도실험 응용장치
· 소프트웨어
· 냉각장치 : 외부 또는 내부 칠러 장치
· ICDD 데이터베이스 : PDF-2 + 라이선스 5년
· 제어 및 데이터 분석 유닛 : CPU + RAM + HDD + ODD + Display monitor

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