경성시험기
KC-1323RHZF
10년
주장비
시험
전기·전자장비 > 측정시험장비 > 달리 분류되지 않는 측정시험장비
2023-11-06
240,240,000원
없음
반도체 급속 온도 사이클 시험기는 반도체 소자가 사용된 모듈 단위 제품의 고온과 저온 반복 조건에서 온도에 대한 신뢰성을 평가하는 장비로 실제 제품의 사용 및 운송, 보관 과정에서 다양한 기후를 거치며 온도 변화가 발생할 수 있으며 이것을 가속하여 검증 가능하고, 차량용 반도체 대표 규격인 AEC-Q 규격평가 전체 등급 평가를 검증할 수 있는 온도범위 및 승온속도를 갖추고 있어 정해진 규격 평가를 넘어 온도에 대한 가속 한계평가까지 진행이 가능한 장비임
- 차량용 반도체 제품의 환경시험평가를 위한 장비로, 반복적인 고온 및 저온 환경 변화에서 신뢰성 환경평가 가능
- 챔버 승온속도는 15 ℃/min까지 가능하여 차량용 반도체 국제 규격인 AEC-Q의 TC 평가·인증 대응이 가능
- 넓은 범위의 온도 조건(-70℃ to 180℃) 및 대용량으로 모듈뿐만 아니라 단품까지 다양한 크기의 시료를 대량 평가 가능
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 30,000원
-반도체 급속 온도 사이클 시험기는 반도체 소자가 사용된 모듈 단위 제품의 고온과 저온 반복 조건에서 온도에 대한 신뢰성을 평가하는 장비로 실제 제품의 사용 및 운송, 보관 과정에서 다양한 기후를 거치며 온도 변화가 발생할 수 있으며 이것을 가속하여 검증할 수 있음
- 반도체 급속 온도 사이클 시험기는 다양한 크기의 차량용 반도체 모듈 단위 제품과 대량 검증 시료 수에 대응하기에 충분한 챔버용량을 갖추고 있고, AEC-Q 규격평가 전체 등급 평가를 검증할 수 있는 온도범위 및 승온속도를 갖추고 있음
● 작업공간: 1300 L
● 온도 균일도: ±2.0 ℃
● 온도 범위: -70℃ ~ 180 ℃
● 온도 정밀도: ±0.5 °C
● 온도 변화율: 15 °C/min 이상
● 습도 범위: 10 ~ 98 %
● 습도 정밀도: ±3 % RH
● 장비 제어용 소프트웨어 탑재된 컴퓨터 시스템