Hirayama
PC-422R8D
5년
주장비
시험
전기·전자장비 > 측정시험장비 > 전압/전류/전력측정시험장비
2023-04-10
208,782,440원
- 반도체용 초가속스트레스시험기는 온도, 습도, 압력의 환경 가속조건을 동시에 가하여 반도체를 극한의 환경에 노출시키고 환경에 의한 잠재적인 불량요소를 상대적으로 짧은 시간동안 효과적으로 검출하는데 활용
- HAST, THB 등 반도체 환경시험 가능한 설비로 AEC-Q 평가 대응이 가능
- HAST 시험 진행시 공기 분압이 가능하여 잔류공기로 인해 휘스커 성장에 의한 고장을 검출할 수 있으며 대량(100개)의 시료를 동시에 시험을 하여 개발일정 단축에 기여 가능
Temperature Range: 105~150℃
Temperature Precision: ± 1 ℃
Humidity Range: 75~100% RH
Pressure Range: 0.2~2.0 kg/cm2G
Chamber size: 420Φ x 657D (84.4L) x 2
100 bias
Air HAST 평가 가능
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 10,000원
- 반도체용 초가속스트레스시험기는 온도, 습도, 압력의 환경 가속조건을 동시에 가하여 반도체를 극한의 환경에 노출시키고 환경에 의한 잠재적인 불량요소를 상대적으로 짧은 시간동안 효과적으로 검출하는데 활용
- HAST, THB 등 반도체 환경시험 가능한 설비로 AEC-Q 평가 대응이 가능
- HAST 시험 진행시 공기 분압이 가능하여 잔류공기로 인해 휘스커 성장에 의한 고장을 검출할 수 있으며 대량(100개)의 시료를 동시에 시험을 하여 개발일정 단축에 기여 가능
- 포화/불포화 증기가압시험을 통해 반도체 금속 영역의 부식을 가속시키는 신뢰성 시험이 가능
● 2개 챔버로 구성
● 각 챔버 사이즈 : 400 dia. X 600 Depth(mm) 이상
● 챔버 재질 : SUS316L
● 안전사양 : 누전차단기, 히터이상, 안전도어, 온도퓨즈, 안전밸브 등
● 자동 용수 공급 시스템
● Power source : Single-phase AC220V
● 압력 제어 : 0.2~2.0 kg/cm2G 범위
● 온도 제어 105℃~150℃, 정밀도 ±1℃ 이하
● 습도 제어 70~100% RH, 정밀도 ±3% 이하