Bruker
ContourX-200
10년
주장비
분석
물리적 측정장비 > 표면특성측정장비 > 표면거칠기/미세구조측정장비
2022-09-19
190,520,000원
기관의뢰 직접사용
고정형
시간별
[Hr] 20,000원
1) 표면피막형상분석장비는 제품개발 및 제작 완료 후 표면 형상 및 조도 분석시험을 위한 장비임
2) 코팅 및 박막 표면에 대한 표면 조도를 비접촉 방식으로 측정해야 하고, 거칠기 측정, 형상 측정, 표면 조도 해석 등을 수행
3) 반복 측정이 신뢰성을 가지도록 보다 정밀한 분해능을 갖춘 장비로, nm 수준의 조도를 빠르고 정확하게 측정
1) 소재 광학 측정 시스템 : 외형검사용 3D 간섭계 현미경 (3D measuring interferometric microscope)
- Objective Lens(3D 간섭계 및 2D 측정 렌즈) : 2.5X, 10X, 50X Interferometric Objective, 10X Bright Field Lens
- Light source(광학 조명) : Dual LED (white light and green light)
- Camera(데이터 측정 카메라) : 1200 x 1000 Monochrome Camera
- Stage(측정 시편 이동) : 6 inch automated XY stage
- FOV Lens(광학 줌 렌즈) : 0.55X, 2X FOV Lens
2) 컨트롤러
- PC(시스템 구동) : 64 Bit multi-core PC and Windows® 10
- Vision S/W(측정 및 분석 S/W) : Vision 64 Bit software for system control and data analysis
- Film S/W(피막 두께 측정 S/W) : Thick and Thin Film Measurement Capability
3) 악세서리
- Standard sample(표준시편) : 8 UM Step Height Standard
- Anti- vibration table(진동 방지 테이블) : Air type
- Monitor(모니터) : 24인치 이상