Melbuild
Double Tilt LN2 Atmos Defend holder System for JEOL TEM
10년
옵션/액세서리(보조장치) (주장비:투과전자현미경 이미징 카메라)
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 투과전자현미경
2023-10-10
197,283,030원
없음
대기 환경 노출 및 전자빔에 취약한 소재들의 미세 구조 분석을 가능하게 하는 투과전자현미경 홀더 시스템.
- 대기비개방 기능을 활용하여 대기 노출을 차단해 이차전지 소재와 같은 환경에 민감한 소재에 대한 구조 분석을 제공.
- 초저온냉각 기능을 활용하여 전자빔에 의한 손상을 억제해 원상태 그대로의 구조 관찰 및 성분 분석을 제공.
대기 환경 노출 및 전자빔에 취약한 소재들의 미세 구조 분석을 가능하게 하는 투과전자현미경 홀더 시스템으로, 대기비개방 기능을 활용하여 대기 노출을 차단해 이차전지 소재와 같은 환경에 민감한 소재에 대한 구조 분석을 제공하며, 초저온냉각 기능을 활용하여 전자빔에 의한 손상을 억제해 원상태 그대로의 구조 관찰 및 성분 분석을 제공한다. 본 장비를 활용하면 이차전지 양극, 음극, 고체전해질의 손상없는 구조 및 성분 분석이 가능하며, 고분자 및 생체 재료 등 다양한 연구 분야에서 활용이 가능하다.
기관의뢰
이동형
시간별
[Hr] 390,000원
대기 환경 노출 및 전자빔에 취약한 소재들의 미세 구조 분석을 가능하게 하는 투과전자현미경 홀더 시스템.
- 대기비개방 기능을 활용하여 대기 노출을 차단해 이차전지 소재와 같은 환경에 민감한 소재에 대한 구조 분석을 제공.
- 초저온냉각 기능을 활용하여 전자빔에 의한 손상을 억제해 원상태 그대로의 구조 관찰 및 성분 분석을 제공.
<장비 구성>
1. 대기비개방 초저온 TEM 홀더
2. 온도 controller
3. Y-tilt controller
4. LF4 cleaning system
<장비 성능>
1. Double-tilt angle: X ±15도, Y ±7도
2. Ultimate temperature: -160도
3. Available TEM: JEOL JEM-2100F (UHR config.), JEOL JEM-ARM200F (HR config.)
4. Air-shielding for vacuum transfer