Jeol
JSM-7000F
5년
옵션/액세서리(보조장치) (주장비:전계방사형 주사전자현미경)
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사전자현미경
2023-10-24
50,270,000원
없음
○ 전계방사형주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope)은 전기, 전자, 산업 분야 및 이차전지등에 사용되는 반도체 SMT 실장 부품의 구조성분분석 및 고장분석등 분석평가하는 장비임
성능 업그레이드 사양
1) Resolution : 1.2㎚ at 15㎸
2) Magnification : ×20 to ×500,000
3) Acceleraion Voltage : 0.5 to 20 ㎸
4) Electron gun : Field Emission type
5) Chamber Scope : 시료 확인 가능
6) 화상처리 Unit : API USB Receiver로 통합
- BSE 이미지 관찰 가능
7) 운영체제 : 윈도우 10 Pro
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 60,000원
전계방사형주사전자현미경(Field Emission Scanning Electron Microscope)은 전기, 전자, 산업 분야 및 이차전지등에 사용되는 반도체 SMT 실장 부품의 구조성분분석 및 고장분석등 분석평가하는 장비임
성능 업그레이드 사양
1) Resolution : 1.2㎚ at 15㎸
2) Magnification : ×20 to ×500,000
3) Acceleraion Voltage : 0.5 to 20 ㎸
4) Electron gun : Field Emission type
5) Chamber Scope : 시료 확인 가능
6) 화상처리 Unit : API USB Receiver로 통합
- BSE 이미지 관찰 가능
7) 운영체제 : 윈도우 10 Pro