Bruker
NANOWIZARD 4XP
5년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 주사탐침현미경
2022-10-11
342,648,570원
분석
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기관의뢰
고정형
건별
[EA] 60,000원
- 일반 원자힘 현미경에서의 다양한 물리적 특성 검출 및 별도 전처리 과정 없이 공기나 액체에 위치한 시료에 대한 원자 수준의 고해상도 이미지 확보
- 고분해능의 3차원 표면 형상 이미지 촬영과 동시에 실시간으로 물성 측정과 나노단위의 상호작용 관측이 가능
- 액상 측정용 시료 홀더를 이용하여 움직이는 나노 바이오 시료(미생물 또는 효소 등)의 실시간 이미지 측정 및 분자 단위 상호작용력 측정이 가능
- 빠른 주사속도로 대면적 시료(100×100 ㎛ 수준)에 대한 측정 속도가 빠르고 높은 민감도를 통해 마이크로미터 수준의 단차를 가진 샘플 관측이 용이
- Raman, 형광, 공초점 현미경과의 결합을 통한 다양한 분석 장비로 확장 가능
- 원자힘 현미경에 광학현미경을 장착한 형태로, 기본적인 원자힘 현미경의 기능에 직접적 육안관측과 연계한 원자힘 현미경 이미지 확보 가능
- 캔틸레버 탐침 말단의 원자와 시료 표면 원자간의 상호작용에 따른 탐침 변위를 측정하여 고분해능의 시료 표면 형상 이미지를 확보할 수 있고 실시간으로 소재의 분자간력 측정 등 다양한 물리적 특성의 실시간 분석
- 표면 형상, 물성 및 특성 분석과 함께 미생물과 효소의 생분해 작용에 따른 분해 표면에 대한 3차원 이미지 확보와 실시간 상호작용 분석 가능
[AFM Head]
- Tip-scanning type
- Cantilever deflection noise: < 2 pm
- Bandwidth of deflection-detection: 8 MHz
- Thermal noise cantilever calibration: ≤ 3.25 MHz
- Sample size: Ø 140 mm × 18 mm (Unlimited for large samples due to tip-scanning design)
- Scanner
・Z-noise in feedback: < 30 pm
・XY Scan range: 100 μm × 100 μm
・XY Sensor noise level: < 90 pm
・Z Scan range: 15 μm
- Imaging mode (air and liquid)
[AFM controller]
- Fast scanning rate: 150 lines/sec with 100 μm scan range
- Data capture speed: ≤ 800,000 pixels/sec
- Thermal noise cantilever calibration: ≤ 3.75 MHz
[기타 주장비]
- Topview optical module
- Manual stage
- Petridish heater
- Cantilever holder
[부속 장비]
- Inverted optical microscope (Fluorescence)
- Anti-vibration table