Fischione
M1061 SEM-Mill
5년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 현미경 > 달리 분류되지 않는 현미경
공동활용서비스
2022-03-24
207,000,000원
기관의뢰
고정형
시간별
[Hr] 58,890원
Ar 이온을 이용하여 시편의 단면을 가공하는데 사용하는 장비로써, Ga ion을 사용하는 FIB에 비해 동일시간 동안 3배 이상의 넓이 및 깊이를 가공할 수 있으나, 별도의 이미징 기능이 없어, 단면 이온 가공 후 SEM 등을 이용하여 단면 관찰을 수행해야 함
Maximum milling rate : 0.5 mm/hr or more
Maximum sample size : 11(W) X 8(D) X 3(H) mm
Air protection chamber
Cooling temperature control : LN2 사용, ~120도 이하
Accelerating voltage : 2 ~ 8 kV
Observation : monitoring camera attached