Keysight Technologies
E4990A
12년
부대장비(부가장치) (주장비:고온 열충격 시험기)
시험
전기·전자장비 > 측정시험장비 > 다기능임피던스측정시험장비
2022-04-19
96,117,570원
없음
- 20Hz to 120MHz의 주파수 범위로 유전체, 반도체, 비정질,고체 산화물 연료전지 및 배터리 재료의 전기적 특성을 측정하는 장비
- 디바이스의 AC 측정 값 Impedance (Z), Phase Angle (Ø), Capacitance (C), Dissipation Factor (D), Inductance (L), Quality Factor (Q), Resistance (R), Reactance (X), Conductance (G), Susceptance, Admittance (Y) 측정가능
- RLC 값들을 추출하여 커패시턴스, 저항, 전압의 측정
- 반도체 및 나노디바이스 상태에서의 전기적인 특성을 측정
- 20Hz to 120MHz의 주파수 범위로 유전체, 반도체, 비정질,고체 산화물 연료전지 및 배터리 재료의 전기적 특성을 측정하는 장비
- 디바이스의 AC 측정 값 Impedance (Z), Phase Angle (Ø), Capacitance (C), Dissipation Factor (D), Inductance (L), Quality Factor (Q), Resistance (R), Reactance (X), Conductance (G), Susceptance, Admittance (Y) 측정가능
- RLC 값들을 추출하여 커패시턴스, 저항, 전압의 측정
- 반도체 및 나노디바이스 상태에서의 전기적인 특성을 측정
1. Frequency
가. Frequency Ranges(주파수 영역) : 20 Hz to 120 MHz
나. Accuracy(정확도): 0.005 % 이내
다. Resolution(분해능): 1 mHz 이내
라. Stability(안정도): 0.001 % 이내
2. Voltage signal level
가. Range: 10 mV to 1 Vrms
나. Resolution: 1 mV 이내
다. Signal source impedance: 50Ω nominal
3. Current signal level
가. Range: 200 µA to 20 mArms
나. Resolution: 20 µA 이내
4. Measurement accuracy
가. Dissipation factor: ±0.0005 (1+D2)* 이내
나. Quality factor: ±0.05 %( Q+1/Q)* 이내
5. Network Printer
가. HP-PCL compatible graphics printing
6. GPIB interface
가. External instrument control. 24 pin IEEE 488 connector
7. Temperature range
가. Storage: -20°C to 60°C
나. Operating: 0°C to 40°C
다. Full Accuracy: 18°C to 28°C
8. Material Test Fixture
가. Frequency: 20Hz to 30MHz
나. Disc MUT diameter: 최소 38mm
다. MUT thickness: 최대 15mm
라. Transfer Standards: 100Ω
기관의뢰 직접사용 임대가능
이동형
일별
[EA] 128,000원
1. 임피던스 분석기는 20Hz to 120MHz의 주파수 범위로 유전체, 반도체, 비정질,고체 산화물 연료전지 및 배터리 재료의 전기적 특성을 측정하는 장비이다.
2. 디바이스의 AC 측정 값 Impedance (Z), Phase Angle (Ø), Capacitance (C),
3. Dissipation Factor (D), Inductance (L), Quality Factor (Q), Resistance (R), Reactance (X),
4. Conductance (G), Susceptance, Admittance (Y) 측정이 가능하다.
5. RLC 값들을 추출하여 커패시턴스, 저항, 전압의 측정에 필수적인 장비로 활용된다.
6. 반도체 및 나노디바이스 상태에서의 전기적인 특성을 측정하여 물성을 분석할 수 있다.
7. 소재 및 프로세스 개발에 대한 연구, 신뢰성 및 고장 분석 연구를 가속화할 수 있는 장치이다.
1. AC Measurement Parameters: Inductance (L), Capacitance (C), Resistance (R), Reactance (X), Conductance (G), Susceptance (B), Admittance (Y), Quality factor (Q), Dissipation factor (D), Impedance (Z), Phase Angle (∅),
2. AC functions: Impedance (Z) Phase Angle (θ) Capacitance (C) Dissipation Factor (D) Inductance (L) Quality Factor (Q) Resistance (R) Reactance (X) Conductance (G) Susceptance (B) Admittance (Y)
3. Measurement terminal: four BNC connectors in four-terminal pair configuration
4. Available sweep parameters: frequency, signal voltage, signal current, DC bias voltage,DC bias current
5. Frequency
가. Frequency Ranges(주파수 영역) : 20 Hz to 120 MHz
나. Accuracy(정확도): 0.005 % 이내
다. Resolution(분해능): 1 mHz 이내
라. Stability(안정도): 0.001 % 이내
6. Voltage signal level
가. Range: 10 mV to 1 Vrms
나. Resolution: 1 mV 이내
다. Signal source impedance: 50Ω nominal
7. Current signal level
가. Range: 200 µA to 20 mArms
나. Resolution: 20 µA 이내
8. Measurement accuracy
가. Dissipation factor: ±0.0005 (1+D2)* 이내
나. Quality factor: ±0.05 %( Q+1/Q)* 이내
9. Network Printer
가. HP-PCL compatible graphics printing
10. GPIB interface
가. External instrument control. 24 pin IEEE 488 connector
11. Temperature range
가. Storage: -20°C to 60°C
나. Operating: 0°C to 40°C
다. Full Accuracy: 18°C to 28°C
12. Material Test Fixture
가. Frequency: 20Hz to 30MHz
나. Disc MUT diameter: 최소 38mm
다. MUT thickness: 최대 15mm
라. Transfer Standards: 100Ω