Bruker
S2 PUMA Series 2
5년
주장비
시험
화합물 전처리·분석장비 > 분광분석장비 > X-선형광분석기
2022-09-05
101,170,760원
기관의뢰
고정형
시간별
[EA] 100,000원
- 시료에 엑스선을 조사하여 재료 표면 및 내부에서 방출되는 고유의 형광엑스선을 측정하여 무기재료의 정성, 정량 분석을 수행하는 장비임
- 시료제조가 용이하고(비파괴) 동시에 여러 원소를 높은 정확도로 빠르게 분석 가능하여 촉매 등 소재 합성시 실시간으로 스펙을 확인하여 생산조건 수립에 반영하기 위한 용도로 활용
1. 메인시스템 (1 set)
1) 분석 범위: 주기율표상 Sodium to Uranium, 혹은 더 넓은 범위
2) 최대 출력: 50 W 이상
3) 최대 관전압: 50 kV 이상
4) 최대 관전류: 2 mA 이상
5) X선원 형태: End-window, Ag or Rh anode
6) 오토샘플러: X-Y 형태 22개 이상, 혹은 Carousels 형태 20개 이상
7) 빔필터 교환기: 10개 포지션 이상
8) 검출기 분해능: <139 eV @ Mn 100,000 cps Ka1
9) 검출기 처리 용량: 1,500,000 cps 이상
10) 검출기 타입: Peltier cooled Silicon Drift Detector - Liquid Nitrogen Free (LNF)
11) 분석모드: 진공모드, 헬륨, Air 모드
12) 원격 연결 서비스: 내장 모뎀 및 이더넷 포트(TCP/IP)
13) 공정제어 통신자동화시스템: AXSCOM을 통한 공정제어 통신자동화시스템(LIMS) 가능
14) Sample Rotation System: 불균일한 시료의 대표성 향상 가능
15) 자동 Detection 기능: 액상 및 분말시료 대상 자동 Detection
2. 장비 제어 및 분석 소프트웨어 (1 set)
1) 소프트웨어는 전자동으로 설정 및 검량 작업을 수행함
2) 소프트웨어는 정성 및 정량 분석 시 전자동으로 시료 교환, 분석 파라미터 변경, 데이터 수집, 데이터 처리, 데이터 출력이 가능함
3. PC System (1 set)