SAN-EI ELECTRIC CO., LTD.
XHS-300S1
5년
주장비
시험
광학·전자 영상장비 > 광파발생/측정장비 > 달리 분류되지 않는 광파발생/측정장비
공동활용허용
2022-03-29
282,523,050원
원
1. 본 장비는 IV 특성곡선 측정 장치와 조합하여 실내에서 태양광발전 소자의 광변환 효율을 측정하기 위한 장비로서, JIS C 8904-9 표준의 MS 등급에 해당하는 AM1.5G 기준 태양광과의 스펙트럼 일치도를 가지며, 약 800 nm를 기준으로 장파장 영역과 단파장 영역의 조사강도를 독립적으로 제어할 수 있기 때문에, 탠덤 태양전지와 같이 2개 이상의 pn 접합이 모노리틱(monolithic) 하게 적층되어있는 다중접합 태양전지 소자의 광변환 효율 정밀 측정이 가능함.
2. 아울러, 본 장비는 약 300 mm x 300 mm 크기의 유효 조사면적을 제공하기 때문에, M12 세대 웨이퍼 사이즈(210 mm x 210 mm) 이상 크기의 대면적 태양전지 광변환 효율 측정에 주로 활용됨.
- 램프 구성 : Xenon + Halogen (2 lamp 형)
- 조사광 스펙트럼 :
1) AM1.5G 기준 태양광 스펙트럼 모사
2) JIS C 8904-9 규격 기준 MS 등급 이상 일치도
- 유효 조사 면적 : 300 x 300 mm
- 조사강도 공간적 불균일도 : 2% 이하 [IEC 60904-9 규격 기준 A 등급]
- 조사강도 시간적 불안정도 : long-term = 2% 이하, short-term = 0.5% 이하 [IEC 60904-9 규격 기준 A 등급]
- 조사 강도 :
1) 1sun (100 mW/cm2) ± 20% 범위에서 조절 가능
2) 약 800 nm 이하 및 800 nm 이상 파장 대역의 조사강도 독립 제어 가능