맥사이언스
M6100
10년
주장비
분석
전기·전자장비 > 측정시험장비 > 광/LED/반도체/디스플레이측정시험장비
2022-04-27
65,594,430원
기관의뢰 직접사용
고정형
시간별
[Hr] 40,000원
I-V-L 평가시스템은 OLED 패널의 전기적, 광학적 특성을 평가하는 것으로서 광특성 측정을 위한
분광방사휘도계, 전압/전류 제어를 위한 소스미터, 측정위치 제어용 3축 스테이지가 포함된 암실
캐비닛 및 자동 측정 소프트웨어로 구성되며, 전압/전류값의 변화에 따른 휘도, 광효율, 색좌표,
전류밀도 등의 결과를 분석하여 이를 OLED 소자의 성능 향상 및 개발에 활용
I-V-L 평가시스템 장비성능
1) 분광방사휘도계(Spectroradiometer) / CS-2000
- 측정파장 범위 : 380 ~ 780 nm
- 파장분해능 : 0.9 nm/pixel
- 표시파장간격 : 1.0 nm
- 휘도측정범위 : 0.3 to 500,000 cd/m2(0.1도 일때)
- 휘도 정확도 : ±2%
2) 소스미터(Source Measure Unit) / Keithley 2400
- Max power : 20 W 이상
- Voltage Range : 1 mV ~ 210 V
- Current Range : 10 pA ~ 1.05 A
- Output Port : I+, I-, V+, V-
3) 구동 및 측정 소프트웨어
- OLED IVL Measurement Software
- I-V-L 테스트 파라미터 설정 및 테스트 시퀀스 선택
- 자동 I-V 측정 및 효율성 계산
- 외부 휘도/색상/EL 스펙트럼 측정 인터페이스
- 측정 데이터의 그래픽 표시
- 텍스트 스프레드시트 또는 MS Excel 형식의 데이터 파일 저장
4) CCD Camera & Monitor
- 측정을 용이하게 하기 위하여 Spectroradiometer의 접안부에 CCD Camera를 장착
5) Sample Mounting JIG, Dark Box & Frame
- TEST를 위한 컴팩트하고 안전한 OLED 패널 장착 가능
- Sample Size : Unit Cell (25 × 25 mm)
2G OLED Panel (370 × 470mm)
6) Dark Box & Frame
- Dark Box 및 SpectroRadiometer 거치대
7) Cable & Accessory
- X-Y-Z Stage : JIG고정 블록을 이동
8) PC & Monitor
9) Pattern Generator
- Resolution : VGA ~ FHD