(주)나노-뷰
SE MG-1000vis
9년
주장비
분석
광학·전자 영상장비 > 광파발생/측정장비 > 타원계
2021-11-02
45,370,000원
원
엘립소미터는 타원 편광된 빛을 분석하여 박막의 두께와 물질의 광학 특성을 동시에 측정하고 분석할 수 있음. 고분자의 필름 형성 특성을 평가하기 위하여 일반적으로 필름의 두께 및 coating uniformity를 측정할 수 있음.
합성한 고분자 레진들은 굴절률과 흡광률이 서로 다르기 때문에 이를 분석하고 두께를 측정하여 정확한 특성을 분석할 수 있음.
1) 다파장 엘립소미터 본체 1대 및 처리/분석용 소프트웨어
2) 부대품 - 상기 장치의 분석을 위한 컴퓨터 1세트, 설치 CD, 매뉴얼 상기 장치에서 분석할 표준 시료 2개
○ 엘립소미터
- 작동 전압: 110 ~ 230 V
- 규격: 40 cm(너비) × 30 cm(세로) × 30cm(높이)
- 파장 영역: 350 nm ~ 840 nm
- 각도 조절: 45~90도 범위에서 조절 가능
- 두께 측정 범위: 0.1 ~ 3000 nm
- 정확도: ±0.029 nm
- 데이터 획득 속도: 전체 스펙트럼에 대해서 5초~10초
○ 분석 소프트웨어 프로그램
- n, k, 두께 회귀분석 가능