○ 장비
- 측정 모드 : 형광, 자외선-가시광선 측정 가능한 흡광, 발광
- 사용가능 플레이트 : 6-,12-,24-,48-,96-,384-, well-plate, Micro-volume plate.
- 파장범위 : 형광(300 - 700 nm 이상), 흡광(230 - 999 nm), 발광(300 - 700nm 이상)
- 파장선택 : 형광(필터), 흡광(1 nm 단위로 조절 가능한 모노크로메이터)
- 파장대역 : 형광(선택필터에 따라 좌우), 흡광(2.4 nm 이상)
- 측정범위 : 형광(6 decades), 흡광(0 - 4.0 OD), 발광(>6 deades)
- 광원 : 형광(텅스텐할로겐 램프 또는 제논플레시) 흡광(제논 플레시 램프)
- 검출기 : 형광(photomultiplier tube), 흡광(Silicon Photodiode 또는 photomultiplier tube), 발광(Low noise PMT 또는 photomultiplier tube)
- 측정방법 : 종말점, 카이네틱스, 웰 분할 스캐닝, 스펙트럼 스캐닝.
- 형광감도 : Fluorescein 1fmol/well 96-well plate 이하
- 흡광기능 : 파장정확도(± 2 nm), 재현성(± 0.2 nm)
- 발광 감도 : 30 amol ATP 이하
- 온조조절 : 실온기준에서 4º C 에서 45ºC 이상 까지 조절가능.
- 세이킹 : 선형, 구형
- 측정속도 : 흡광(96 well : 14 seconds, 384 well : 26seconds, 이하)
- 장비운영 및 데이터분석 프로그램 제공
: 장비운영 하드웨어 제공
: 데이터 분석 프로그램 Gen5 제공